雙向可控硅的檢測

用萬用表電阻R×1檔，用紅黑兩表筆分別測任意兩引腳正反向電阻，結(jié)果其中兩組讀數(shù)為無窮大。若一組為數(shù)十歐姆時，該組紅黑表筆所接的兩引腳為陽A1和控制G，另一空腳即為第二陽A2。確定A、G后，再仔細(xì)測量A1、G間正反向電阻，讀數(shù)相對較小的那次測量的黑表筆所接的引腳為陽A1，紅表筆所接引腳為控制G。將黑表筆接已確定了的第二陽A2，紅表筆接陽A1，此時萬用表指針應(yīng)不發(fā)生偏轉(zhuǎn)，阻值為無窮大。再用短接線將A2、G瞬間短接，給G加上正向觸發(fā)電壓，A2、A1間阻值約為10歐姆左右。隨后斷開A2、G短接線，萬用表讀數(shù)應(yīng)保持10歐姆左右。互換紅黑表筆接線，紅表筆接第二陽A2，黑表筆接陽A1。同樣萬用表指針應(yīng)不發(fā)生偏轉(zhuǎn)，阻值為無窮大。用短接線將A2、G間再次瞬間短接，給G加上負(fù)向的觸發(fā)電壓，A1、A2間阻值也是10歐姆左右。隨后斷開A2、G間短接線，萬用表讀數(shù)應(yīng)不變，保持10歐姆左右，上海快恢復(fù)可控硅模塊功能，上海快恢復(fù)可控硅模塊功能。符合以上規(guī)律，上海快恢復(fù)可控硅模塊功能，說明被測雙向可控硅管未損壞且三個引腳性判斷正確。

檢測較大功率可控硅管是地，需要在萬用表黑筆中串接一節(jié)1.5V干電池，以提高觸發(fā)電壓。

可控硅鑒別三個的方法很簡單，根據(jù)P-N結(jié)的原理，用萬用表測量一下三個之間的電阻值就可以判斷出來。

  陽與陰之間的正向和反向電阻在幾百千歐以上，陽和控制之間的正向和反向電阻在幾百千歐以上（它們之間有兩個P-N結(jié)，而且方向相反，因此陽和控制正反向都不通）。

  控制與陰之間是一個P-N結(jié)，因此它的正向電阻大約在幾歐-幾百歐的范圍，反向電阻比正向電阻要大。可是控制二管特性是不太理想的，反向不是完全呈阻斷狀態(tài)的，可以有比較大的電流通過，因此，有時測得控制反向電阻比較小，并不能說明控制特性不好。另外，在測量控制正反向電阻時，萬用表應(yīng)放在R*10或R*1擋，防止電壓過高控制反向擊穿。

  若測得元件陰陽正反向已短路，或陽與控制短路，或控制與陰反向短路，或控制與陰斷路，說明元件已損壞。

接下來需要檢測的是控制與陰之間的PN結(jié)是否損壞。我們可以用萬用表的R×1k或R×10k擋測陽與控制之間的電阻，正反向測量阻值均應(yīng)幾百千歐以上，若電阻值很小表明可控硅擊穿短路。用R×1k或R×100擋，測控制和陰之間的PN結(jié)的正反向電阻在幾千歐左右，如出現(xiàn)正向阻值接近于零值或?yàn)闊o窮大，表明控制與陰之間的PN結(jié)已經(jīng)損壞。反向阻值應(yīng)很大，但不能為無窮大。正常情況是反向阻值明顯大于正向阻值。

  如果想要判斷可控硅是否已經(jīng)被擊穿損壞，工程師可以使用萬用表選電阻R×1擋，然后將黑表筆接陽，紅表筆仍接陰，此時萬用表指針應(yīng)不動。紅表筆接陰不動，黑表筆在不脫開陽的同時用表筆尖去瞬間短接控制，此時萬用表電阻擋指針應(yīng)向右偏轉(zhuǎn)，阻值讀數(shù)為10歐姆左右。如陽接黑表筆，陰接紅表筆時，萬用表指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，說明該單向可控硅已擊穿損壞。