過電壓會對可控硅模塊造成損壞，如果要想保護可控硅不受其損壞，就要了解過電壓的產生原因，從而去避免防止受損，下面正高電氣就來講講過電壓會對可控硅模塊造成怎樣的損壞？以及過電壓產生的原因。
可控硅模塊對過電壓非常敏感，當正向電壓超過udrm值時，可控硅會誤導并導致電路故障；當施加的反向電壓超過urrm值時，可控硅模塊會立即損壞。因此，需要研究過電壓產生的原因和過電壓的方法。
過電壓主要是由于供電電源或系統儲能的急劇變化，使系統轉換太晚，寧夏小功率可控硅模塊功能，寧夏小功率可控硅模塊功能，或是系統中原本積聚的電磁能量消散太晚，寧夏小功率可控硅模塊功能。主要研究發現，由于外界沖擊引起的過電壓主要有兩種類型，如雷擊和開關開啟和關閉引起的沖擊電壓。雷擊或高壓斷路器動作產生的過電壓是幾微秒到幾毫秒的電壓尖峰，對可控硅模塊非常危險。
可控硅模塊的分類：
1、以關斷、導通及控制方式來分類：可控硅按其關斷、導通及控制方式可分為普通可控硅、雙向可控硅、逆導可控硅、門關斷可控硅（GTO）、BTG可控硅、溫控可控硅和光控可控硅等多種。
2、以引腳和性來分類：可控硅按其引腳和性可分為二可控硅、三可控硅和四可控硅。
3、以封裝形式來分類：可控硅按其封裝形式可分為金屬封裝可控硅、塑封可控硅和陶瓷封裝可控硅三種類型。其中，金屬封裝可控硅又分為螺栓形、平板形、圓殼形等多種；塑封可控硅又分為帶散熱片型和不帶散熱片型兩種。
4、以電流容量來分類：可控硅按電流容量可分為大功率可控硅、中功率可控硅和小功率可控硅三種。通常，大功率可控硅多采用金屬殼封裝，而中、小功率可控硅則多采用塑封或陶瓷封裝。
5、以關斷速度來分類：可控硅按其關斷速度可分為普通可控硅和高頻（快速）可控硅。
6、過零觸發，一般是調功，即當正弦交流電交流電電壓相位過零點觸發，必須是過零點才觸發，導通可控硅參數介紹
7、非過零觸發，無論交流電電壓在什么相位的時候都可觸發導通可控硅，常見的是移相觸發。
接下來需要檢測的是控制與陰之間的PN結是否損壞。我們可以用萬用表的R×1k或R×10k擋測陽與控制之間的電阻，正反向測量阻值均應幾百千歐以上，若電阻值很小表明可控硅擊穿短路。用R×1k或R×100擋，測控制和陰之間的PN結的正反向電阻在幾千歐左右，如出現正向阻值接近于零值或為無窮大，表明控制與陰之間的PN結已經損壞。反向阻值應很大，但不能為無窮大。正常情況是反向阻值明顯大于正向阻值。
如果想要判斷可控硅是否已經被擊穿損壞，工程師可以使用萬用表選電阻R×1擋，然后將黑表筆接陽，紅表筆仍接陰，此時萬用表指針應不動。紅表筆接陰不動，黑表筆在不脫開陽的同時用表筆尖去瞬間短接控制，此時萬用表電阻擋指針應向右偏轉，阻值讀數為10歐姆左右。如陽接黑表筆，陰接紅表筆時，萬用表指針發生偏轉，說明該單向可控硅已擊穿損壞。
