干法刻蝕也可以根據被刻蝕的材料類型來分類，東莞深硅刻蝕材料刻蝕外協。按材料來分，刻蝕主要分成三種：金屬刻蝕、介質刻蝕、和硅刻蝕。介質刻蝕是用于介質材料的刻蝕，如二氧化硅。接觸孔和通孔結構的制作需要刻蝕介質，從而在ILD中刻蝕出窗口，而具有高深寬比（窗口的深與寬的比值）的窗口刻蝕具有一定的挑戰性。硅刻蝕（包括多晶硅）應用于需要去除硅的場合，如刻蝕多晶硅晶體管柵和硅槽電容。金屬刻蝕主要是在金屬層上去掉鋁合金復合層，東莞深硅刻蝕材料刻蝕外協，東莞深硅刻蝕材料刻蝕外協，制作出互連線。廣東省科學院半導體研究所。法刻蝕主要利用反應氣體與等離子體進行刻蝕。東莞深硅刻蝕材料刻蝕外協
在半導體制造中有兩種基本的刻蝕工藝：干法刻蝕和濕法。干法刻蝕是把硅片表面曝露于氣態中產生的等離子體，等離子體通過光刻膠中開出的窗口，與硅片發生物理或化學反應（或這兩種反應），從而去掉曝露的表面材料。干法刻蝕是亞微米尺寸下刻蝕器件的較重要方法。而在濕法中，液體化學試劑（如酸、堿和溶劑等）以化學方式去除硅片表面的材料。濕法一般只是用在尺寸較大的情況下（大于3微米）。濕法仍然用來硅片上某些層或用來去除干法刻蝕后的殘留物。二氧化硅濕法刻蝕：較普通的刻蝕層是熱氧化形成的二氧化硅。東莞深硅刻蝕材料刻蝕外協晶圓的不同點刻蝕速率不同的情況稱為非均勻性，通常以百分比表示。
刻蝕工藝：把未被抗蝕劑掩蔽的薄膜層除去，從而在薄膜上得到與抗蝕劑膜上完全相同圖形的工藝。在集成電路制造過程中，經過掩模套準、曝光和顯影，在抗蝕劑膜上復印出所需的圖形，或者用電子束直接描繪在抗蝕劑膜上產生圖形，然后把此圖形地轉移到抗蝕劑下面的介質薄膜（如氧化硅、氮化硅、多晶硅）或金屬薄膜（如鋁及其合金）上去，制造出所需的薄層圖案。刻蝕就是用化學的、物理的或同時使用化學和物理的方法，有選擇地把沒有被抗蝕劑掩蔽的那一部分薄膜層除去，從而在薄膜上得到和抗蝕劑膜上完全一致的圖形。刻蝕技術主要分為干法刻蝕與濕法刻蝕。干法刻蝕主要利用反應氣體與等離子體進行刻蝕；濕法刻蝕主要利用化學試劑與被刻蝕材料發生化學反應進行刻蝕。在工藝中可能會對一個薄膜層或多個薄膜層執行特定的刻蝕步驟。
GaN材料的刻蝕一般采用光刻膠來做掩膜，但是刻蝕GaN和光刻膠，選擇比接近1:1，如果需要刻蝕深度超過3微米以上就需要采用厚膠來做掩膜。對于刻蝕更深的GaN,那就需要采用氧化硅來做刻蝕的掩模，刻蝕GaN的氣體對于刻蝕氧化硅刻蝕比例可以達到8:1。深硅刻蝕是MEMS器件工藝當中很重要的一個工藝，根據不同應用對深硅刻蝕有不同的側壁形貌要求，深硅刻蝕的刻蝕方式有BOSCH工藝、Cryo工藝、mix工藝，而常用的工藝是用BOSCH工藝，刻蝕深度可以達到400微米，深寬選擇比可以達到20:1.濕法刻蝕主要利用化學試劑與被刻蝕材料發生化學反應進行刻蝕。
等離子體刻蝕機要求相同的元素：化學刻蝕劑和能量源。物理上，等離子體刻蝕劑由反應室、真空系統、氣體供應、終點檢測和電源組成。晶圓被送入反應室，并由真空系統把內部壓力降低。在真空建立起來后，將反應室內充入反應氣體。對于二氧化硅刻蝕，氣體一般使用CF4和氧的混合劑。電源通過在反應室中的電創造了一個射頻電場。能量場將混合氣體激發或等離子體狀態。在激發狀態，氟刻蝕二氧化硅，并將其轉化為揮發性成分由真空系統排出。廣東省科學院半導體研究所。理想情況下，晶圓所有點的刻蝕速率都一致。東莞深硅刻蝕材料刻蝕外協
干法刻蝕優點是：處理過程未引入污染。東莞深硅刻蝕材料刻蝕外協
等向性刻蝕：大部份的濕刻蝕液均是等向性，換言之，對刻蝕接觸點之任何方向速度并無明顯差異。故一旦定義好刻蝕掩膜的圖案，暴露出來的區域，便是往下的所在；蘭記婚只要刻蝕配方具高選擇性，便應當止于所該止之深度。然而有鑒于任何被蝕薄膜皆有其厚度，當其被蝕出某深度時，刻蝕掩膜圖案邊緣的部位漸與刻蝕液接觸，故刻蝕液也開始對刻蝕掩膜圖案邊緣的底部，進行蝕掏，這就是所謂的下切或側向侵蝕現象(undercut)。該現象造成的圖案側向誤差與被蝕薄膜厚度同數量級，換言之，濕刻蝕技術因之而無法應用在類似次微米線寬的精密棄擊乃制程技術。東莞深硅刻蝕材料刻蝕外協
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