*D比對軟件秉承了Micro-Vu60多年來自主開發軟件的經驗，FormFit*D輪廓比對軟件用戶界面友好，簡潔易操作，提供配準、編輯、分析、報告等功能，并可與InSpec測量軟件相結合，做到測量后自動比對并生成報告，提升效率。主要應用領域：1.全局/局域誤差分析*.位置度等常見幾何公差分析3.線輪廓度的端4.結合InSpec一鍵輸出測量報告查看詳情3D比對軟件GeomagicControl是一款的計量軟件，可與Micro-Vu高精度影像測量儀相結合，電子光學影像測量儀服務，對檢測對象方便地進行編輯、CAD比較，GD&T（幾何尺寸和公差）等自動化操作。應用領域：1.掃描數據與CAD對齊比較，計算幾何公差3.全交互的三維模型報告4.從對齊到生成報告的進程自動化查看詳情大型環形光表面光源是在鏡頭下方由多顆LED燈珠組成，光源的角度從*7°到75°，電子光學影像測量儀服務。大型環形光：可調整為5環，8區域，電子光學影像測量儀服務，40小區塊。提供長與短工作距離的選擇。查看詳情效率工具機械手SPC統計分析軟件定制棱鏡SPC統計分析軟件一套好用的制程統計分析軟件，包含自定義報表輸出功能，可搭配微軟的Excel電子表格產生報表。三次元測量儀和三坐標測量儀的區別.電子光學影像測量儀服務

    Z軸的補償功能與對焦功能的結合:測量高度的時候(包括盲孔深度)，我們的儀器會具備有自動對焦及Z軸的補償功能(Z軸機械上升或下降移動造成的誤差，軟件會自動計算和補償)，以確保精度能達到≤。自動對焦功能是通過電腦軟件，幫您把畫面自動調到清晰，以減少人工調節的誤差。9、自動多點捕捉線/圓/弧的功能:測量產品的時候，我們時常要對產品進行取線，取圓，取弧等測繪功能，自動多點取線、自動多點取圓、自動多點取弧等功能的開發(為目前捕促線/弧/圓的準確捕促方法)，軟件會以扇型/柜形框選的形式，以很多的點去自動捕促我們要測量的線/圓，快速生成一個準確的圓/線/弧，提高您的檢測效率。10、CNC全自動測量:如果同樣的產品，要做多個檢查的時候，只要產品做好編程并設定坐標后，第二個產品放上去，儀器會自動按照產品的編程方案，快速幫您把第二個產品測完，并同時輸出報表。11、SPC數據報表及測繪圖輸出功能:測量的數據可根據自身公司的要求，設定產品公差值，當儀器測量尺寸后，數據會在報表區域顯示，不合格為紅色，同時可導出到EXCL表格中，測繪圖也可以導入CAD中進行標注或做逆向工程。電子光學影像測量儀服務MICROVU影像測量儀可以添加接觸式探針嗎.

    Micro-Vu始建于1959年南加州的圣費爾南多谷。初期的目標是以一般市場可承受的價格提供精密光學比較器。當時市場上絕大多數測量和檢測系統對于普通小加工廠來說價格過于高昂，而這些規模較小的機床店，加工廠同樣需要提高零件的加工質量。Micro-Vu的初代產品是一種便攜式光學比較器。Micro-Vu設計研發了一種特殊的鏡頭系統使得設備以較低的成本同樣能夠提供清晰的成像，該款光學比較器一經面市即獲得市場的歡迎。隨后的幾年間，Micro-Vu拓展了其產品線以開發更大，更精密的測量機器以滿足客戶的需求。在70年代發售全系列的光學比較器并配備了諸如透鏡表面照明和集成數字讀數等在當時較為的功能。進入新世紀以來，Micro-Vu持續不斷提供為客戶更優的測量解決方案。將激光，探針整合入原有的光學測量系統內，開發全自動系列測量機器，于*001年前后發布Vertex和Excel系列機型，滿足市場需求的同時不斷給客戶創造更多的驚喜。

與SPC相關的幾個重要的概念 1. 變差 就像世界上沒有兩張完全相同的樹葉一樣，任何一個工廠，無論其生產技術多么，從其生產線出來的同一種產品或多或少總會存在一些差異，這種差異就是變差。比如，同一生產線生產出的一批合格螺栓，長度不可能做到完全一樣。 *. 普通原因 vs 特殊原因 同樣的道理，為什么兩個相同的漢堡并不能其重量完全相等呢？這是因為制作漢堡的工藝流程不可能每一個漢堡的重量***的一樣，總會存在一些細微差異。只不過作為顧客的我們能夠接受這樣的差異。我們把導致這種普遍的、固有的、可接受的變差的原因，叫做普通原因 。 但是如果哪天你買了兩個同樣的漢堡，卻發現其中一個漢堡中間完全沒有加蔬菜，這不再是常見的、普通的變差了，而是有某種特殊原因導致的變差，比如員工的操作失誤。這種變差往往是顧客不能接受的。我們把導致這種非普遍的、非固有的、異常的變差的原因叫做特殊原因 。 3.受控 vs 不受控 如果一個過程**只有普通原因引起的變差，我們就說這個過程受控。 如果一個過程存在特殊原因引起的變差，我們就說這個過程不受控。 控制圖的作用就是幫助我們發現并消除導致過程變異的特殊原因，使過程從不受控變成受控。光學影像測量儀工作原理.

    SPC控制圖（ControlChart）一種對生產過程的關鍵質量特性值進行測定、記錄、評估并監測過程是否處于控制狀態的一種圖形方法。**早的控制圖是由美國貝爾電話實驗室的休姆哈特博士在19*4年提出的P圖（PChart），后來此類控制圖都被叫做休姆哈特控制圖，休哈特也被譽為“統計質量控制SPC之父”。從休姆哈特的P圖算起，SPC理論從創立到***已接近百年。SPC理論創立之初，恰逢美國大蕭條時期，該理論當時無人問津。后來二次世界大戰時，SPC理論在幫助美國軍方提升武器質量方面大顯身手，于是戰后開始風行全世界。不過二戰后，美國無競爭對手，產品橫行天下，SPC在美國并沒有得到***重視。日本二戰戰敗后被美國接管，為了幫助日本的戰后重建，美國軍方邀請戴明博士到日本講授SPC理論。1980年日本已居世界質量與勞動生產率的地位，其中一個重要的原因就是SPC理論的應用。1984年日本名古屋工業大學調查了115家日本各行業的中小型工廠，結果發現平均每家工廠采用137張控制圖。因此，SPC無論是在歐美還是日本，都是非常重要的質量改進工具，所以大家有必要去深入認識SPC、應用SPC和推廣SPC。光學影像測量儀和三坐標測量儀哪個測量出來的數據比較準確.電子光學影像測量儀服務

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