X射線粉末衍射(XRPD)技術是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡單地實施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析微觀結構分析(微晶尺寸、微應變、無序…)熱處理或加工制造組件產生的大量殘余應力織構(擇優取向)分析指標化、從頭晶體結構測定和晶體結構精修,由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此一一布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。使用D8D,您將能在原位循環條件下測試電池材料,直截了當地獲取不斷變化的儲能材料和晶體結構和相位信息。江西物相定量分析XRD衍射儀推薦咨詢

石墨化度分析引言石墨及其復合材料具有高溫下不熔融、導電導熱性能好以及化學穩定性優異等特點,應用于冶金、化工、航空航天等行業。特別是近年來鋰電池的快速發展,進一步加大了石墨材料的需求。工業上常將碳原料經過煅燒破碎、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質量對電池的性能有很大影響,石墨化度是一種從結構上表征石墨質量的方法之一。石墨化度碳原子形成密排六方石墨晶體結構的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點陣參數,石墨化度就愈高。四川第三方檢測機構XRD衍射儀卡口安裝式Eulerian托架可支持多種應用,如應力、織構和外延膜分析,包括在非環境條件下。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和m之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜)。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。
汽車和航空航天:配備了UMC樣品臺的D8D的一大優勢就是可以對大型機械零件進行殘余應力和結構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。半導體與微電子:從過程開發到質量控制,D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結構表征。制藥業篩選:新結構測定以及多晶篩選是藥物開發的關鍵步驟,對此,D8D具有高通量篩選功能。儲能/電池:使用D8D,您將能在原位循環條件下測試電池材料,直接了當的獲取不斷變化的儲能材料的晶體結構和相組方面的信息。D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本,可通過使用的是標準D8測角儀還是ATLAS測角儀進行區分。

殘余應力分析::在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,用Cr輻射進行測量,對鋼構件的殘余應力進行分析。使用了2D檢測器的μXRD:使用DIFFRAC.EVA,測定小區域結構特性。通過積分2D圖像,進行1D掃描,來進行定性相分析和微觀結構分析。定性相分析:候選材料鑒別(PMI)為常見,這是因為其對原子結構十分靈敏,而這無法通過元素分析技術實現。高通量篩選(HTS):在DIFFRAC.EVA中,進行半定量分析,以現實孔板上不同相的濃度。非環境XRD:在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量*,然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結果。小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中,對EIGER2R500K通過2D模式手機的NISTSRM80119nm金納米顆粒進行粒度分析。EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實驗室X射線衍射的2D檢測器。浙江原位分析XRD衍射儀配件
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XRD檢測聚合物結晶度測定引言聚合物的結晶度是與其物理性質有很大關系的結構參數。有時,可以通過評估結晶度來確定剛度不足,裂紋,發白和其他缺陷的原因。通常,測量結晶度的方法包括密度,熱分析,NMR、IR以及XRD方法。這里將給出通過X射線衍射技術加全譜擬合法測定結晶度的方法的說明以及實例。結晶度對于含有非晶態的聚合物,其散射信號來源于兩部分:晶態的衍射峰和非晶態漫散峰。那么結晶度DOC則定義為晶態衍射峰面積與總散射信號面積的比值:江西物相定量分析XRD衍射儀推薦咨詢