半導體晶圓是一種薄而平的半導體材料圓片，組成通常為硅，主要用于制造集成電路（IC）和其他電子器件的基板。晶圓是構建單個電子組件和電路的基礎，各種材料和圖案層在晶圓上逐層堆疊形成。由于優異的電子特性，硅成為了常用的半導體晶圓材料。根據摻雜物的添加，硅可以作為良好的絕緣體或導體。此外，硅的儲量也十分豐富，上述這些特性都使其成為半導體行業的成本效益選擇。其他材料如鍺、氮化鎵（GaN）、砷化鎵（GaAs）和碳化硅（SiC）也具有一定的適用場景，但它們的市場份額遠小于硅。晶圓切割后清洗設備中清航科專利設計，殘留顆粒＜5個/片。連云港碳化硅半導體晶圓切割測試

隨著芯片輕薄化趨勢，中清航科DBG（先切割后研磨）與SDBG（半切割后研磨）設備采用漸進式壓力控制技術，切割階段只切入晶圓1/3厚度，經背面研磨后自動分離。該方案將100μm以下晶圓碎片率降至0.01%，已應用于5G射頻模塊量產線。冷卻液純度直接影響切割良率。中清航科納米級過濾系統可去除99.99%的0.1μm顆粒，配合自主研發的抗靜電添加劑，減少硅屑附著造成的短路風險。智能溫控模塊維持液體粘度穩定，延長刀片壽命200小時以上呢。南京碳化硅線晶圓切割藍膜晶圓切割全流程追溯系統中清航科開發，實現單芯片級質量管理。

面向磁傳感器制造，中清航科開發超導磁懸浮切割臺。晶圓在強磁場（0.5T）下懸浮，消除機械接觸應力，切割后磁疇結構畸變率<0.3%，靈敏度波動控制在±0.5%。中清航科電化學回收裝置從切割廢水中提取金/銅/錫等金屬，純度達99.95%。單條產線年回收貴金屬價值超$80萬，回收水符合SEMIF78標準，實現零廢液排放。針對HJT電池脆弱電極層，中清航科采用熱激光控制技術（LCT）。紅外激光精確加熱切割區至200℃，降低材料脆性，電池效率損失<0.1%，碎片率控制在0.2%以內。

對于高價值的晶圓產品，切割過程中的追溯性尤為重要。中清航科的切割設備內置二維碼追溯系統，每片晶圓進入設備后都會生成單獨的二維碼標識，全程記錄切割時間、操作人員、工藝參數、檢測結果等信息，可通過掃碼快速查詢全流程數據，為質量追溯與問題分析提供完整依據。在晶圓切割的邊緣處理方面，中清航科突破傳統工藝限制，開發出激光倒角技術。可在切割的同時完成晶圓邊緣的圓弧處理，倒角半徑可精確控制在5-50μm范圍內，有效減少邊緣應力集中，提高晶圓的機械強度。該技術特別適用于需要多次搬運與清洗的晶圓加工流程。12英寸晶圓切割中清航科解決方案突破產能瓶頸，良率99.3%。

針對小批量多品種的研發型生產需求，中清航科提供柔性化切割解決方案。其模塊化設計的切割設備可在30分鐘內完成不同規格晶圓的換型調整，配合云端工藝數據庫，存儲超過1000種標準工藝參數，工程師可快速調用并微調，大幅縮短新產品導入周期，為科研機構與初創企業提供靈活高效的加工支持。晶圓切割后的檢測環節直接關系到后續封裝的質量。中清航科將AI視覺檢測技術與切割設備深度融合，通過深度學習算法自動識別切割面的微裂紋、缺口等缺陷，檢測精度達0.5μm，檢測速度提升至每秒300個Die，實現切割與檢測的一體化流程，避免不良品流入下道工序造成的浪費。中清航科切割機遠程診斷系統，故障排除時間縮短70%。金華砷化鎵晶圓切割寬度

第三代半導體切割中清航科提供全套解決方案，良率95%+。連云港碳化硅半導體晶圓切割測試

晶圓切割過程中產生的應力可能導致芯片可靠性下降，中清航科通過有限元分析軟件模擬切割應力分布，優化激光掃描路徑與能量輸出模式，使切割后的晶圓殘余應力降低40%。經第三方檢測機構驗證，采用該工藝的芯片在溫度循環測試中表現優異，可靠性提升25%，特別適用于航天航空等應用領域。為幫助客戶快速掌握先進切割技術，中清航科建立了完善的培訓體系。其位于總部的實訓基地配備全套切割設備與教學系統，可為客戶提供理論培訓、實操演練與工藝調試指導，培訓內容涵蓋設備操作、日常維護、工藝優化等方面，確保客戶團隊能在短時間內實現設備的高效運轉。連云港碳化硅半導體晶圓切割測試