光譜共焦傳感器可以測量幾乎任何類型的材料（玻璃，陶瓷，塑料，半導(dǎo)體，金屬，織物，紙張，皮革等）制成的樣品。它們可以測量拋光表面（鏡子，鏡片，晶圓）以及粗糙表面。

光斑尺寸、比較大采樣斜率、工作距離和測量范圍，分別是什么概念

比較大采樣斜率（M，簡稱MSS），是光軸和樣品表面法線之間的比較大角度，在此角度條件下測量依然可行。MSS是測量點(diǎn)處的實(shí)際局部斜率，而非理論上“平均曲面”的斜率。此功能*對鏡面(鏡面狀)表面有重要意義；對散射表面，比較大采樣斜率更高。對于所有類型的采樣，采集信號的強(qiáng)度都隨著傾斜角度的增加而減小。光斑尺寸(Spotsize)，指光點(diǎn)的理論尺寸，即光斑的大小。工作距離(WorkingDistance)，光學(xué)筆前端到量程近端的距離。測量范圍(MeasuringRange，簡稱MR)，0到比較大可量測值的區(qū)間范圍。又叫測量行程。 光譜共焦傳感器，就選馬波斯測量科技，用戶的信賴之選，有需要可以聯(lián)系我司哦！傳感器精度

光強(qiáng)信號指示燈顯示當(dāng)前光強(qiáng)是否超過5%。當(dāng)測量樣品未在量程范圍內(nèi)，此時不存在測量信號，該指示燈為熄滅狀態(tài)。當(dāng)光強(qiáng)信號大于5%，信號燈點(diǎn)亮為綠色，表明測量數(shù)據(jù)質(zhì)量較高。當(dāng)光強(qiáng)信號小于5%時，信號燈則會顯示為橙色預(yù)警，提示用戶當(dāng)面光強(qiáng)信號較弱，測量數(shù)據(jù)效果不佳。此時應(yīng)該當(dāng)信號燈點(diǎn)亮為紅色時，表明當(dāng)前光強(qiáng)信號為100%。測量數(shù)據(jù)的質(zhì)量存在不確定性，因此可以嘗試一下方法解決：

量程預(yù)警信號燈當(dāng)前樣品是否在測量范圍內(nèi)，當(dāng)樣品不在量程范圍內(nèi)時，該信號燈為熄滅狀態(tài)。當(dāng)樣品位于量程的15%-85%區(qū)間時，該信號燈點(diǎn)亮為綠色。而當(dāng)樣品位于量程的15%以下或85%以上時，該信號燈則顯示為橙色，此時測量的數(shù)據(jù)仍是有效的，只不過需要警惕樣品超出量程范圍。 河北馬波斯傳感器應(yīng)用案例粗糙度測量符合ISO標(biāo)準(zhǔn)25178-602傳感器適用任何反射表面；通過塑料或玻璃等透明層。

在具體測量過程，需保證光強(qiáng)和量程預(yù)警指示燈為綠色，則測量的數(shù)據(jù)質(zhì)量好，重復(fù)性精度高。如遇到橙色或紅色顯示，則需要根據(jù)上述方法調(diào)整傳感器的狀態(tài)。如嘗盡上述方法都未能解決問題，請及時聯(lián)系我們說的售后工程師，我們將幫助您解決該問題

與您分享光譜共焦傳感器光筆測頭知識講解與注意事項(xiàng)

首先，測頭是可以更換的：同一個控制器多可存儲20個對應(yīng)于不同的測頭的校準(zhǔn)表數(shù)據(jù)，即可配備20個不同的測頭。其次，測頭是完全無源的：因?yàn)樗鼪]有包含熱源和移動部件，所以要避免可能影響傳感器測量過程精度的任何熱膨脹。將測頭連接在控制器上的光纜長可以定做到10m，當(dāng)整理光纖線時避免將其彎曲成曲率半徑小于20mm的圓弧

在半導(dǎo)體行業(yè)應(yīng)用：

LED 芯片三維測量

LED 晶圓光學(xué)檢測

BGA 半導(dǎo)體封裝

光伏晶圓表面形貌

測量涂層厚度時與部件無任何接觸。激光和紅外傳感器可分析2至50厘米距離的涂層。這意味著可以在工業(yè)涂層環(huán)境中測量部件，即使它們位于移動產(chǎn)線上、在高溫環(huán)境中，甚至易碎或潮濕環(huán)境中。由于激光束產(chǎn)生的熱量極少，因此測量過程中涂層和部件都不會被損壞或改變。因此，對于那些迄今已有的方法會破壞測試樣品的工業(yè)運(yùn)用，它也可以系統(tǒng)地測量每個部件。測量通常不到一秒鐘，具有高度重復(fù)性。這樣可以控制高達(dá)100％的涂層部件，嚴(yán)格遵循涂層工藝性能并實(shí)時反應(yīng)以保持比較好狀 非接觸式測量，一體化設(shè)計(jì)，3D輪廓掃描，多功能數(shù)據(jù)處理適用于各種材料的精確測量。

什么是光譜共焦干涉儀？非接觸式輪廓測量技術(shù)中的測量精度，通常受機(jī)械振動和微掃描臺位置不準(zhǔn)確的限制。為不再受此類環(huán)境干擾，開發(fā)了對振動不敏感的全新干涉測量法。采用這種新型干涉儀系統(tǒng)，干涉儀顯微鏡的精度可達(dá)亞納米級。

光譜共焦干涉測量原理干涉測量法基于白光干涉圖（SAWLI）的光譜分析。它包括分析在光譜儀上觀察到的干擾信號，以便測量參比板和樣品之間的氣隙厚度。成熟系統(tǒng)的**性在于將參考板固定在檢測目標(biāo)上。由于參考板和樣品固定在一起，機(jī)械振動不會影響測量結(jié)果。此外，該傳感器可用于測量太薄而不允許使用光譜共焦技術(shù)的透明薄膜。**小可測厚度為0.4μm。 馬波斯測量科技致力于提供專業(yè)的光譜共焦傳感器，有想法可以來我司咨詢！傳感器精度

STIL光譜共焦傳感器對被測物體表面顏色和光潔度無特殊要求，無論物體表面是漫反射或高光面，甚至是鏡面。傳感器精度

什么是光譜共焦？光學(xué)傳感器提供比較好的技術(shù)以滿足非接觸尺寸測量**苛刻的要求。基于使用空間彩色編碼的創(chuàng)新光學(xué)原理，我們的傳感器使用戶能夠以非凡的精確度對任何類型的材料進(jìn)行測量。用于工業(yè)環(huán)境中的設(shè)計(jì)，STIL傳感器的各系列，吸引集成器與測量檢測機(jī)器輕松連接，這歸功于為每臺儀器提供的動態(tài)鏈接庫（DLL）

光學(xué)原理我們的光學(xué)傳感器基于高度創(chuàng)新的共焦彩色成像原理。入射的白光***通過彩色物鏡成像為沿Z軸的連續(xù)單色圖像，從而沿光軸提供“顏色編碼”反向散射的光束通過過濾***進(jìn)入光譜儀，該光譜儀確定波長已完全聚焦于物體上，然后精確地確定其在測量場的位置。共聚焦光譜成像技術(shù)以極高的分辨率提供可靠、精確和可再現(xiàn)的尺寸測量。 傳感器精度

馬波斯（上海）測量設(shè)備科技有限公司致力于機(jī)械及行業(yè)設(shè)備，是一家貿(mào)易型的公司。公司業(yè)務(wù)分為機(jī)床領(lǐng)域檢測系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)與非標(biāo)尺寸檢測，泄漏與裝配測試，工業(yè)電腦與軟件等，目前不斷進(jìn)行創(chuàng)新和服務(wù)改進(jìn)，為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務(wù)。公司秉持誠信為本的經(jīng)營理念，在機(jī)械及行業(yè)設(shè)備深耕多年，以技術(shù)為先導(dǎo)，以自主產(chǎn)品為重點(diǎn)，發(fā)揮人才優(yōu)勢，打造機(jī)械及行業(yè)設(shè)備良好品牌。馬波斯工業(yè)測量憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品、專業(yè)的服務(wù)、眾多的成功案例積累起來的聲譽(yù)和口碑，讓企業(yè)發(fā)展再上新高。