ST測試系統計算機化測試系統，半自動測試短波紅外相機的重要參數；1）ModeI：分辨率，MRC（蕞小可分辨對比度），MTF（調至傳遞函數），Distortion（畸變），FOV（視場），靈敏度，SNR（信噪比），NEI（噪聲等效輸入），FPN（固定圖形噪聲），non-uniformity（非均勻性）等；2）ModeII：MRTD（蕞小可分辨溫差，MDTD（蕞小可探測溫差），MTF（調至傳遞函數），NETD（噪聲等效溫差），FPN（固定圖形噪聲）等；3）ModeIII：（MeanDetectivity（平均探測率），NoiseEquivalentIrradiance（噪聲等效輻亮度），噪聲，動態范圍等。光電測量，助力地質勘探，精確解析巖層結構。平行光管光電測試系統使用

FAPA是一個準通用系統，用于擴展控制/測試紅外FPA傳感器，專門為進行此類圖像傳感器開發研究的科學機構使用而優化。它主要用于測試完整的紅外FPA傳感器(帶有讀出電子器件的探測器陣列)和熱成像儀中心，但也可以測量原始紅外FPA傳感器的一些關鍵參數(與ROIC集成之前)。此外，FAPA還可以選擇用于測試完整的熱成像儀。這樣，FAPA就可以成為評估紅外FPA傳感器生命周期中任何階段的寶貴工具:原始紅外FPA紅外傳感器、紅外FPA傳感器、熱成像儀**、熱成像儀。FAPA是一個模塊化系統，由一系列模塊組成，可以配置為創建一系列不同的子系統，用于測量不同參數組。然而，FAPA的所有模塊基本上可以分為三類(塊):1.放射性測量工具，2.傳感器控制/圖像處理工具，3.圖像采集/計算工具。平行光管光電測試系統使用光電技術，應用于教育領域，提升實驗教學質量。

LAFT移動式熱像儀測試系統，可以將目標圖像直接投射到被測熱像儀。熱像儀輸出對應圖像，根據圖像即可評價熱像儀的性能。推薦在外場條件下使用LAFT，如果在實驗室/倉庫條件下，此時可以使用長走廊作為測試場所。在適當的測量條件下，LAFT測試系統的測量精度與實驗室級DT系列測試系統的測量精度相同。野外和實驗室內應用的多功能測量工具可以裝在箱子里運輸到任何地方可以同時測量幾個熱像儀（同時投影到幾個熱像儀上成像）產品參數LAFT-A：MRTD，MDTDLAFT-B：MRTD，MDTD，MTF，NETD，FPN，非均勻性，SiTF，畸變，FOV，部分輪廓靶的探測、識別和辨別

可見光靶標主要分為兩類：A)反射式靶標，B）透射式靶標。反射式靶標無法提供高精度的靶標圖形因此只能用于可見光成像系統簡單的評估測試。透射式靶標的精度可以達到次微米級，通常采用在干凈的玻璃基板上光刻的方法而得到。Inframet采用USAF1951靶標，其具備很好的通用性，既支持低分辨率相機測試，也同時支持高分辨率相機測試。產品參數：參數：數值圖案類型：3桿圖案組數：0到7(可選0-8)空間頻率范圍：1-228lp/mm(可選1-456lp/mm)對比度：百分之二到100%基板：鈉鈣玻璃(可選石英)圖形鍍膜：鉻靶標板尺寸：23x23mmINFRAMET LAFT 熱成像光電測試系 統助力科研，精細測量技術參數無憂。

MTB系列黑體是精密的面源黑體，旨在模擬中溫目標。使用一個薄的面加熱元件來控制散熱器溫度。黑體散熱器的***溫度可以調節在約50攝氏度到550攝氏度之間。發射器面積可以從50x50mm到500x500mm，具體取決于型號。應用MTB黑體可用于一系列可能的應用：1、在中溫范圍內測量熱像儀的精度（已知溫度的面源）。2、監控系統SWIR成像儀3、用于測試SWIR/MWIRFPAs的系統至高溫度：典型的至高溫度為550℃。如果不需要這樣的溫度，則最高溫度可以降低到350℃，并且提供更好的熱均勻性。光電系統，應用于文物展覽，確保展品安全展示。江西光電測試系統

Inframet NVS 夜視設備多功能測試 系統，助力航空航天器熱防護系統測試。平行光管光電測試系統使用

JT400軸對準測試系統外觀圖Inframet設計生產的用于測試多傳感器監控系統的MS系列測試系統不僅支持這些監控系統的擴展性測試，也支持軸對準測試。然而，MS系列測試系統是相對昂貴的測試系統。JT多傳感器軸對準測試系統是相對經濟的系統，用于**的軸對準測試以及光電多傳感器監控系統的基本參數測試。測試功能：1.不同視場的熱像儀的軸對準；2.不同鏡頭焦距的可見光-近紅外相機的軸對準；3.可見光-近紅外相機與熱像儀之間的軸對準；4.激光測距機與可見光-近紅外相機之間的軸對準；5.激光測距機與熱像儀之間的軸對準；6.激光指示器與可見光/近紅外相機以及熱像儀之間的軸對準；7.可見光/近紅外相機的分辨率/靈敏度；8.熱像儀的分辨率；9.激光測距機的發散角；10.參考光軸與參考機械軸(平面)的對準誤差。平行光管光電測試系統使用