邁克爾遜干涉儀，是1881年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作，為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀，可以產生等厚干涉條紋，也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量，若觀察到干涉條紋移動一條，便是M2的動臂移動量為λ/2，等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術中，如在光譜線精細結構的研究和用光波標定標準米尺等實驗中都有著重要的應用。利用該儀器的原理，研制出多種**干涉儀。 [1]而雙頻激光干涉儀正好克服了這一弱點，它是在單頻激光干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。高新區本地雙頻激光干涉儀五星服務

激光干涉儀是一種高精度的測量工具，以下是對其的詳細介紹：一、定義與原理激光干涉儀是以激光波長為已知長度，利用邁克爾遜干涉系統測量位移的通用長度測量工具。其工作原理基于干涉原理，即當兩束波重疊并結合時，會產生新的波形模式。在激光干涉儀中，激光束被分為兩路，一路經固定反射鏡反射，另一路經可動反射鏡反射，兩束光重新匯合時產生干涉條紋。當可動反射鏡移動時，干涉條紋的光強變化被轉換為電信號，進而計算出位移量。高新區新款雙頻激光干涉儀產品介紹用激光干涉儀作為機床的測量系統可以提高機床的精度和效率。

雙頻激光干涉儀激光干涉儀在氦氖激光器上，加上一個約0.03特斯拉的軸向磁場。由于塞曼分裂效應和頻率牽引效應, 激光器產生1和2兩個不同頻率的左旋和右旋圓偏振光。經1/4波片后成為兩個互相垂直的線偏振光,再經分光鏡分為兩路。一路經偏振片1后成為含有頻率為f1-f2的參考光束。另一路經偏振分光鏡后又分為兩路：一路成為*含有f1的光束,另一路成為*含有f2的光束。當可動反射鏡移動時,含有f2的光束經可動反射鏡反射后成為含有f2 ±Δf的光束，Δf是可動反射鏡移動時因多普勒效應產生的附加頻率,正負號表示移動方向(多普勒效應是奧地利人C.J.多普勒提出的，即波的頻率在波源或接受器運動時會產生變化)。

三角運算給出其中疊加后的振幅為可以看到， 疊加后的振幅與兩列波的初始相位差有關。 由于幅度變化依賴于相位差的余弦函數， 這種幅度的變化有時候在空間表現為周期性的條紋。 這種條紋有時候叫做干涉條紋， 由于相位差變化引起的幅度變化有時也稱為條紋移動。分類干涉儀的分類有不同分法按照結構區分干涉儀可以分為單路徑干涉儀和多路徑干涉儀兩類， 其差異在于干涉的波是否通過同一路徑傳播。 例如邁克爾遜干涉儀就是常見的多路徑干涉儀， 而Sagnac干涉儀， 等傾干涉和等厚干涉等即為單路徑干涉儀（鐘錫華， 陳熙謀， 2002） [3]。通過分析干涉條紋的變化，可以得到被測物體的位移信息。

按照干涉光來源區分干涉儀可以分成波前分解和幅度分解兩類， 其差異在于是否利用波前上不同位置的子波源形成干涉。 例如楊氏雙縫干涉即屬于波前分解干涉儀（鐘錫華， 陳熙謀， 2002） [3]； 而等傾干涉和等厚干涉即為幅度分解干涉儀。干涉儀的應用極為***，主要有如下幾方面：長度測量在雙光束干涉儀中，若介質折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發生變化所造成，根據條紋的移動數可進行長度的精確比較或***測量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀**涉儀曾被用來以鎘紅譜線的波長表示國際米。干涉儀廣泛應用于物理學、工程學、光學等領域。蘇州本地雙頻激光干涉儀哪家好

干涉圖樣分析：通過觀察干涉條紋的變化，可以獲取關于物體形狀、厚度等信息。高新區本地雙頻激光干涉儀五星服務

但是這種單頻的激光儀并非完美，它的一個根本弱點就是受環境影響嚴重，在測試環境惡劣，測量距離較長時，這一缺點十分突出。其原因在于它是一種直流測量系統，必然具有直流光平和電平零漂的弊端。激光干涉儀可動反光鏡移動時，光電接收器會輸出信號，如果信號超過了計數器的觸發電平則就會被記錄下來，而如果激光束強度發生變化，就有可能使光電信號低于計數器的觸發電平而使計數器停止計數，使激光器強度或干涉信號強度變化的主要原因是空氣湍流，機床油霧，切削屑對光束的影響，結果光束發生偏移或波面扭曲。高新區本地雙頻激光干涉儀五星服務

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