激光干涉測(cè)量?jī)x是一種基于激光干涉原理的高精度計(jì)量?jī)x器，廣泛應(yīng)用于工程與技術(shù)科學(xué)領(lǐng)域 [1-2]。該儀器通過(guò)測(cè)量激光波長(zhǎng)變化實(shí)現(xiàn)幾何量的檢測(cè)，具備抗干擾能力強(qiáng)、精度高等特點(diǎn)。主要應(yīng)用場(chǎng)景包括數(shù)控機(jī)床校準(zhǔn)、三坐標(biāo)機(jī)校準(zhǔn)、光學(xué)平臺(tái)校準(zhǔn)等，通過(guò)與不同光學(xué)組件結(jié)合，可檢測(cè)線(xiàn)性位移、角度、直線(xiàn)度、垂直度、平行度、平面度等參數(shù) [2]截至2020年11月，激光干涉測(cè)量?jī)x的技術(shù)參數(shù)包括 [1]：標(biāo)準(zhǔn)量程：0-40米測(cè)量精度：±0.5 ppm分辨率：1納米比較大速率：240米/分鐘角度測(cè)量精度：0.2%光束合并：兩束光在分束器后重新合并，形成干涉圖樣。高新區(qū)銷(xiāo)售雙頻激光干涉儀選擇

(1)接受信號(hào)為交流信號(hào)，前置放大器為高倍數(shù)的交流放大器，不用直流放大，故沒(méi)有零點(diǎn)漂移等問(wèn)題。(2)利用多普勒效應(yīng)，計(jì)數(shù)器計(jì)頻率差的變化，不受激光強(qiáng)度和磁場(chǎng)變化的影響。在光強(qiáng)度衰減90%時(shí)仍可得到滿(mǎn)意的信號(hào)，這對(duì)于遠(yuǎn)距離測(cè)量是十分重要的，同時(shí)在近距離測(cè)量時(shí)又能簡(jiǎn)化調(diào)整工作。(3)測(cè)量精度不受空氣湍流的影響，無(wú)需預(yù)熱時(shí)間。用激光干涉儀作為機(jī)床的測(cè)量系統(tǒng)可以提高機(jī)床的精度和效率。起初*用于高精度的磨床、鏜床和坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上，以后又用于加工中心的定位系統(tǒng)中。姑蘇區(qū)新款雙頻激光干涉儀五星服務(wù)即使不做細(xì)分也可達(dá)到μm量級(jí)，細(xì)分后更可達(dá)到nm量級(jí)。

基于菲索干涉儀的等厚干涉原理設(shè)計(jì)，通過(guò)對(duì)比被測(cè)平面與標(biāo)準(zhǔn)參照鏡的干涉條紋變化，實(shí)現(xiàn)光學(xué)元件表面形狀誤差和材料均勻性的非接觸式測(cè)量 [1] [3-4]。標(biāo)準(zhǔn)參照鏡面形精度通常達(dá)到p-v:λ/20 [3-4]。測(cè)量口徑：Φ60mm（典型型號(hào)） [3-4]對(duì)準(zhǔn)方式：兩點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng) [3-4]結(jié)構(gòu)特性：小型化設(shè)計(jì)、防塵性能優(yōu)異 [3-4]精度范圍：根據(jù)型號(hào)不同覆蓋1/10-1/100波長(zhǎng)梯度 [11.光學(xué)制造：檢測(cè)平面鏡、棱鏡等光學(xué)元件表面面型2.質(zhì)量檢測(cè)：評(píng)估光學(xué)材料均勻性與透鏡波前像差 [1]3.科研實(shí)驗(yàn)：實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下進(jìn)行精密光學(xué)計(jì)量分析

8、激光干涉儀的光源——激光，具有**度、高度方向性、空間同調(diào)性、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點(diǎn)。9、激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來(lái)使用。1、儀器應(yīng)放置在干燥、清潔以及無(wú)振動(dòng)的環(huán)境中應(yīng)用。2、在移動(dòng)儀器時(shí)，為防止導(dǎo)軌變形，應(yīng)托住底座再進(jìn)行移動(dòng)。3、儀器的光學(xué)零件在不用時(shí)，應(yīng)在清潔干燥的器皿中進(jìn)行存放，以防止發(fā)霉。4、盡量不要去擦拭儀器的反光鏡、分光鏡等，如必須擦拭則應(yīng)當(dāng)小心擦拭，利用科學(xué)的方法進(jìn)行清潔。現(xiàn)代的雙頻激光干涉儀測(cè)速普遍達(dá)到1m/s，有的甚至達(dá)到十幾m/s，適于高速動(dòng)態(tài)測(cè)量。

檢驗(yàn)光學(xué)元件泰曼干涉儀被普遍用來(lái)檢驗(yàn)平板、棱鏡和透鏡等光學(xué)元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個(gè)光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評(píng)估透鏡的波像差。引力波測(cè)量干涉儀也可以用于引力波探測(cè)(Saulson, 1994) [4]。 激光干涉儀引力波探測(cè)器的概念是前蘇聯(lián)科學(xué)家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962） [5]。 1969年美國(guó)科學(xué)家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實(shí)驗(yàn)室建造初步的試驗(yàn)系統(tǒng)（Weiss 1972） [6]雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎(chǔ)上發(fā)展的一種外差式干涉儀。昆山附近雙頻激光干涉儀哪家強(qiáng)

雙頻激光干涉儀是一種高精度、高靈敏度的測(cè)量工具，適用于各種科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用。高新區(qū)銷(xiāo)售雙頻激光干涉儀選擇

若干涉條紋發(fā)生移動(dòng)，一定是場(chǎng)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光程差發(fā)生了變化，引起光程差變化的原因，可能是光線(xiàn)長(zhǎng)度L發(fā)生變化，或是光路中某段介質(zhì)的折射率n發(fā)生了變化，或是薄膜的厚度e發(fā)生了變化。S為點(diǎn)光源，M1（上邊）、M2（右邊）為平面全反射鏡，其中M1是定鏡；M2為動(dòng)鏡，它和精密螺絲相連，轉(zhuǎn)動(dòng)鼓輪可以使其向前后方向移動(dòng)，最小讀數(shù)為10mm，可估計(jì)到10mm,。M1和M2后各有3個(gè)小螺絲可調(diào)節(jié)其方位。G1（左）為分光鏡，其右表面鍍有半透半反膜，使入射光分成強(qiáng)度相等的兩束（反射光和透射光）。高新區(qū)銷(xiāo)售雙頻激光干涉儀選擇

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