但是這種單頻的激光儀并非完美，它的一個根本弱點就是受環境影響嚴重，在測試環境惡劣，測量距離較長時，這一缺點十分突出。其原因在于它是一種直流測量系統，必然具有直流光平和電平零漂的弊端。激光干涉儀可動反光鏡移動時，光電接收器會輸出信號，如果信號超過了計數器的觸發電平則就會被記錄下來，而如果激光束強度發生變化，就有可能使光電信號低于計數器的觸發電平而使計數器停止計數，使激光器強度或干涉信號強度變化的主要原因是空氣湍流，機床油霧，切削屑對光束的影響，結果光束發生偏移或波面扭曲。廣泛應用：廣泛應用于材料科學、機械工程、光學測量、精密制造等領域。蘇州銷售雙頻激光干涉儀哪家強

非接觸式測量：激光干涉儀可以不接觸物體表面就測量其形狀，這對于測量易碎或精細的物體非常有用。多功能性：激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作。抗干擾能力強：雙頻激光干涉儀對由光強變化引起的直流電平變化不敏感，因此抗干擾能力強。五、注意事項與維護注意事項：儀器應放置在干燥、清潔以及無振動的環境中應用。在移動儀器時，應托住底座以防止導軌變形。光學零件在不用時，應在清潔干燥的器皿中進行存放以防止發霉。吳中區附近雙頻激光干涉儀哪家強雙頻激光干涉儀以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。

檢驗光學元件泰曼干涉儀被普遍用來檢驗平板、棱鏡和透鏡等光學元件的質量。在泰曼干涉儀的一個光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評估透鏡的波像差。引力波測量干涉儀也可以用于引力波探測(Saulson, 1994) [4]。 激光干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962） [5]。 1969年美國科學家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統（Weiss 1972） [6]

激光的出現在世界計量史上具有重大的意義。用穩頻的氦氖激光器作為光源，由于它的相干長度很大，干涉儀的測量范圍可以**的擴展；而且由于它的光束發散角小，能量集中，因而它產生的干涉條紋可以用光電接收器接收，變為電訊號，并由計數器一個不漏的記錄下來，從而提高了測量速度和測量精度，比如說我國自行設計與制造的以氦氖激光器作為光源的光電光波比長儀，可以在20分鐘之內把1米線紋尺上1001條刻線依次自動鑒定完畢，精度達到±0.2μm，這就是激光干涉儀的成功例證。實時測量：可以實現實時監測和數據采集，適合動態測量。

三角運算給出其中疊加后的振幅為可以看到， 疊加后的振幅與兩列波的初始相位差有關。 由于幅度變化依賴于相位差的余弦函數， 這種幅度的變化有時候在空間表現為周期性的條紋。 這種條紋有時候叫做干涉條紋， 由于相位差變化引起的幅度變化有時也稱為條紋移動。分類干涉儀的分類有不同分法按照結構區分干涉儀可以分為單路徑干涉儀和多路徑干涉儀兩類， 其差異在于干涉的波是否通過同一路徑傳播。 例如邁克爾遜干涉儀就是常見的多路徑干涉儀， 而Sagnac干涉儀， 等傾干涉和等厚干涉等即為單路徑干涉儀（鐘錫華， 陳熙謀， 2002） [3]。激光干涉儀是一種利用激光干涉原理進行測量的精密儀器。相城區通用雙頻激光干涉儀量大從優

干涉儀是一種用于測量光波或其他波動現象的儀器，利用干涉原理來分析波的特性。蘇州銷售雙頻激光干涉儀哪家強

8、激光干涉儀的光源——激光，具有**度、高度方向性、空間同調性、窄帶寬和高度單色性等優點。9、激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來使用。1、儀器應放置在干燥、清潔以及無振動的環境中應用。2、在移動儀器時，為防止導軌變形，應托住底座再進行移動。3、儀器的光學零件在不用時，應在清潔干燥的器皿中進行存放，以防止發霉。4、盡量不要去擦拭儀器的反光鏡、分光鏡等，如必須擦拭則應當小心擦拭，利用科學的方法進行清潔。蘇州銷售雙頻激光干涉儀哪家強

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