大家都知道分辨率的高低會直接影響屏幕顯示的圖片或圖標的細致度，圖像的分辨率越高，屏幕越細膩，圖像也就越清晰，觀看效果也就越好。所以分辨率的高低是選擇熱像儀的一個重要的參數(shù)。紅外熱像儀的分辨率有很多種，產(chǎn)品像素為640x480，中端紅外熱像儀的像素為320x240，低端紅外熱像儀的像素為160x120。相同距離拍攝同一物體，紅外熱像儀像素越高，所獲得的紅外熱圖像越清晰。像素越高，紅外熱像儀的價格也越高。MC640擁有高達640x480的超高分辨率，也是市面上為數(shù)不多的一款**的單筒紅外夜視熱成像儀。紅外線熱像儀靈敏度高，如保溫杯、熱飯盒等都能監(jiān)測出來，并將具**置定位在發(fā)熱點，監(jiān)測精度高。美國FLIR紅外熱像儀質(zhì)量保證

    紅外(Infrared,IR)波是指波長在，它在大自然的電磁波譜里處在可見光與微波之間。由于IR在電磁波譜中涵蓋的波長范圍很寬，人們通常按波長將它分成５個子波段，分別為：近紅外(near-IR,NIR)、中紅外(mid-IR,MIR)、長波紅外(long-wavelengthIR,LWIR)、甚長波紅外(very-long-wavelengthIR,VLWIR)以及遠紅外(far-IR,FIR)，它們所對應的波長范圍如下表所示：一、IR紅外探測器分類根據(jù)探測機理的不同，IR探測器可分為兩大類，分別是光子探測器和熱探測器，下圖所示：在吸收IR波后，熱探測材料的溫度、電阻率、電動勢以及自發(fā)極化強度等會產(chǎn)生明顯的波動，根據(jù)這些波動可探測目標物體向外輻射IR的能量。熱探測器的響應速度普遍比光子探測器低，因此在大規(guī)模FPA探測器的發(fā)展方面不如光子探測器樂觀，但熱探測器制造成本低廉、使用便利，這使它們在民用市場大受歡迎與光子探測器不同，熱探測器的響應光譜較為平坦，不存在峰值波長，其探測率不隨波長變化而變化，如圖所示。 無線傳輸紅外熱像儀適用紅外熱像儀主要用于測試DEW 儀器和分析目標影響。

紅外熱像儀的圖像可以進行后期處理。紅外熱像儀通常會輸出熱圖或熱圖像，這些圖像可以通過專門的軟件進行后期處理和分析。常見的紅外熱像儀后期處理功能包括：溫度測量和標定：可以通過軟件測量圖像中不同區(qū)域的溫度，并進行標定，以便更準確地分析熱分布情況。圖像增強：可以通過調(diào)整亮度、對比度、色彩等參數(shù)來增強圖像的清晰度和可視化效果。圖像濾波：可以使用濾波算法對圖像進行去噪處理，以減少圖像中的噪點和干擾。圖像合成：可以將紅外熱像儀的熱圖與可見光圖像進行合成，以獲得信息。圖像分析和報告生成：可以使用軟件進行圖像分析，如檢測異常區(qū)域、繪制溫度曲線等，并生成相應的報告。

nGaAs是由兩種Ⅲ-Ⅴ族半導體材料組成的三元系半導體化合物，它的帶隙隨組分比例的變化而變化。基于此材料制備的IR探測器，其響應截止波長可達到3μm以上，響應范圍完全覆蓋NIR波段，是該波段探測器團體里**重要的成員。在該體系下，其他化合物性能如下圖所示：與其它的常用IR探測器相比，InGaAs探測器的興起較晚，在上世紀80年代才開始走進人類的視野。近年來，得益于NIR成像的強勢崛起，InGaAs的發(fā)展勢頭也十分迅猛。在實際生產(chǎn)中，一般將InGaAs材料生長在磷化銦(InP)襯底上，紅外熱像儀兩者的晶格失配度也會隨InGaAs組分的變化而變化。紅外熱像儀已廣泛應用于包括電力、科研、制造等領(lǐng)域內(nèi)的各行各業(yè)。

鋼鐵企業(yè)生產(chǎn)線上設有各類儀表和傳感器，測量軋鋼過程各種參數(shù)，并將結(jié)果送軋線計算機系統(tǒng)。高精度的軋線測量儀表和傳感器是基礎(chǔ)自動化、過程自動化和管理自動化的關(guān)鍵。軋制產(chǎn)品生產(chǎn)中的軋線儀表和傳感器，包括通用的常規(guī)儀表和特殊儀表，前者如加熱爐用儀表、軋線的紅外熱像儀、連續(xù)退火生產(chǎn)線上分析爐內(nèi)還原性氣體的氫氣和一氧化碳分析儀等，后者如測量冷熱軋帶鋼的厚度計、寬度計等。下面對常見的特殊儀表和特殊傳感器進行總結(jié)：由于這個波段的電磁波輻射也被稱為紅外波，所以這種設備就也被稱為紅外熱像儀。美國FLIR紅外熱像儀質(zhì)量保證

紅外線熱像儀靈敏度高，如保溫杯、熱飯盒等都能監(jiān)測出來，并將定位在發(fā)熱點，監(jiān)測精度高。美國FLIR紅外熱像儀質(zhì)量保證

紅外熱像儀的工作距離是有限制的。紅外熱像儀的工作距離取決于其焦距和像素分辨率。一般來說，紅外熱像儀的工作距離在幾米到幾十米之間。在工作距離范圍內(nèi)，紅外熱像儀可以提供較為準確的溫度測量結(jié)果。然而，當距離目標過遠或過近時，紅外熱像儀的測量精度可能會受到影響。如果距離目標過遠，紅外熱像儀可能無法準確地捕捉到目標的細節(jié)和溫度變化，從而導致測量誤差增加。此外，目標與紅外熱像儀之間的距離過遠還可能導致環(huán)境因素的影響增加，如大氣散射和輻射能量的衰減。另一方面，如果距離目標過近，紅外熱像儀的視場角可能會變得較小，無法覆蓋目標的整個區(qū)域，從而導致測量結(jié)果不準確。美國FLIR紅外熱像儀質(zhì)量保證