隨著光通信、激光加工、量子光學等領域的技術迭代,對寬光譜測量設備的需求愈發迫切。維度光電 LPM 功率計以 200-2600nm 的超寬光譜范圍,為行業提供了極具前瞻性的解決方案。在下一代光網絡研發中,該設備可同時監測 C+L 波段(1530-1625nm)的通信光與 O 波段(1260-1360nm)的控制光;在激光雷達系統測試中,能夠*測量 905nm 和 1550nm 雙波長激光的發射功率。LPM 功率計不滿足了當前多波段光學系統的測試需求,更為未來光譜技術的創新發展奠定了堅實的測量基礎。維度光電 LPM,從皮瓦到 20W 寬量程測量。檢測LPM光功率計怎么選型
Dimension-Labs推出的光電式功率計一舉打破常規功率測量限制,不只是針對400-700nm范圍內激光功率測量,更是可以擴展波長至紫外200nm以及紅外2600nm,具體產品型號對飲波段分別有200-1100nm、400-1100nm、800-1700nm、800-2600nm,還可以根據用戶具體需求定制400-1700nm超寬激光功率測量型號,充分滿足不同用戶各種激光波長功率測量需求。設備機身自帶波長、單位、藍牙連接按鈕,完全實現一鍵切換波長設置、單位轉換、藍牙配置,極大提升用戶測量體驗感,快速得到測量結果,縮短項目測試時間,提高項目效率。激光加工LPM光功率計怎么搭建維度光電 LPM,城市空氣質量激光監測助。

相較于傳統功率測量設備,維度光電 Dimension-labs LPM 功率計在功率測量范圍上實現了巨大突破。傳統功率計往往需要針對不同功率級別配置多臺設備,不占用大量空間,還增加了采購與維護成本。而 LPM 功率計從皮瓦級的微弱信號到 20W 的高功率,都能輕松應對。弱光測量時,其硅探測器的高靈敏度遠超同類產品,可探測到 500pW 的極弱光;高功率測量中,獨特的散熱與衰減設計,讓其無需依賴外部衰減裝置就能直接測量 20W 工業激光。這種-且高效的測量能力,使得用戶無需再為功率測量范圍局限而煩惱,在降設備成本的同時,還提升了測量的便捷性與準確性。
硅光芯片,作為集光學與電子學功能于一體的創新型芯片,在高速通信、光互連以及光計算等前沿領域展現出極為廣闊的應用前景。硅光芯片耦合系統的實際操作中需要利用功率計嚴格監測耦合前后功率數值,評估耦合效率,調整耦合系統,從而保證通信傳播性能。Dimension-Labs推出的光電式激光功率計配置光纖轉接件,可快速安裝光纖接口,并且機身設計小巧,方便整體與耦合系統集成測試。同時在通用空間激光耦合系統中,為了實時監測激光耦合效率及-耦合效果,高靈敏、高精度光電式功率計可快速測量耦合前后激光功率,并且可以根據耦合之后功率數值變化實時調整系統器件從而優化系統配置與信號傳播。維度光電 LPM 多維探頭,適配多樣測量場景。

?采用高靈敏度探測芯片,完美適配高斯光、平頂光等復雜光斑
?特殊抗反射涂層處理,有效降低雜散光干擾
?探測窗口直徑高達12mm
?全系標配可換裝光纖適配法蘭,支持FC/PC、SMA905等主流接口
?"錐形光路優化"技術,光纖耦合效率提升30%
?內置光纖對準導引系統,3秒快速完成光纖對接
從深紫外到中紅外,無論是:
紫外激光加工(200-400nm)可見光實驗(400-700nm)光纖通信波段(1310/1550nm)工業級紅外激光(1900-2600nm)都能提供<±2%的測量精度 維度光電 LPM,定制化探測窗口任你選。維度光電LPM光功率計原廠
維度光電 LPM,籠式光學系統集成測試得力。檢測LPM光功率計怎么選型
針對光學實驗室與工業產線的雙重檢測需求,該系列功率計創造性地構建了多場景解決方案。大靶面探測器及通用型光纖配件既能處理自由空間光束,也可快速切換光纖接口完成光能分析。設備在保持掌心尺寸便攜性的同時,采用獨特電路算法及結構確保長時間運行的穩定性。創新的人機交互體系將物理按鈕與顯示界面有機結合,配合高清數字顯示屏,使操作者能在強光實驗室或昏暗車間都能清晰獲取讀數。配套的智能分析系統支持中英文語言切換和標準報告模板,提升研發團隊的工作協同效率。檢測LPM光功率計怎么選型