分散在不同Excel表格或本地數據庫中的測試數據，往往難以跨項目調用和對比。YMS通過構建標準化數據庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設備的異構數據，按產品型號、測試階段、時間、區域等維度統一歸檔，形成結構清晰、索引完備的數據資產池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現。標準化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數聯動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數據源。跨部門協作時，設計、工藝與質量團隊可基于同一套數據開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業經驗，使YMS成為企業構建數據驅動文化的基礎設施。SPAT模塊用于靜態參數偏離的篩查，固定測試限保障CP/FT環節穩定性。浙江半導體GDBC系統

芯片制造對良率控制的精度要求極高，YMS系統為此提供了從數據采集到根因分析的一站式解決方案。系統兼容多種測試平臺輸出的多格式文件，自動完成數據清洗與整合，確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數據一致性。通過關聯WAT、CP、FT等階段的關鍵參數，系統可精確識別導致良率下降的工藝或設計問題，并以圖表形式展現芯片級缺陷分布與趨勢變化。靈活的報表引擎支持按周期自動生成分析簡報，便于跨部門協同與持續改進。這種精細化的數據治理能力，使企業在激烈競爭中保持質量優勢。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業軟件能力賦能中國半導體產業，其YMS系統已成為多家客戶提升產品競爭力的重要工具。廣西MappingOverInk處理服務PAT模塊與GDBC算法協同區分隨機噪聲與系統性缺陷，提升篩選精確度。

良率波動若不能及時干預，可能造成數百萬級的產能損失。YMS系統通過自動化流程，即時采集并清洗來自多種測試平臺的異構數據，構建高可信度分析基礎。系統支持從宏觀趨勢到微觀缺陷的穿透式分析，例如將某產品月度良率下降與特定封裝線關聯，并結合FT參數驗證是否為打線偏移導致。SYL/SBL卡控機制設置動態閾值，在指標異常時自動預警，實現前置質量管控。多周期報表自動生成并支持多格式導出，使管理層能基于一致數據源快速決策。這種“實時感知—智能歸因—主動干預”的能力，將良率管理從經驗驅動升級為數據驅動。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質取勝”為準則，持續打磨YMS的可靠性與實用性。

面對工廠級良率管理的復雜性，單一數據源或手工報表已難以支撐全局質量洞察。YMS系統整合來自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設備的stdf、xls、log等測試數據，通過自動化清洗與異常過濾，構建全廠統一的良率數據視圖。管理者可基于該視圖，從時間維度追蹤長期趨勢，或從空間維度比對不同機臺、批次間的性能差異，精確識別瓶頸環節。系統對WAT、CP、FT參數的聯動分析，進一步打通從前道到后道的質量鏈路。SYL與SBL的自動卡控機制，確保關鍵指標始終處于受控狀態。靈活的報表導出功能，則滿足從車間班組長到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導體發展需求，持續完善YMS系統，推動工廠實現數據驅動的質量躍升。PAT模塊與GDBC算法協同減少誤剔除良品風險，平衡質量與成本。

在半導體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統性失效模式，便源于光刻環節的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設計瑕疵時，或當光刻機在步進重復曝光過程中出現參數漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產生的特定區域內的芯片，實質上構成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產品的長期可靠性與品牌聲譽構成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關的潛在缺陷，是現代高可靠性質量管理中一項極具挑戰性的關鍵任務。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個Shot Mapping Ink方案，可以將整個Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據設定的算法將整個Shot進行Ink, 從而去除掉因光刻環節的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠將質量管控的關口從“篩查單個失效芯片”前移至“攔截整個失效風險區域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴苛的車規、工規等產品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發問題導致的批次性可靠性風險，為客戶構建起一道應對系統性缺陷的堅固防線。 Mapping Over Ink處理通過失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常，指導工藝改進方向。云南半導體PAT系統定制

上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，可以將測試后處理的芯片做降檔處理，降低測試Cost。浙江半導體GDBC系統

當測試工程師面對來自ETS88、J750、93k等多臺設備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數據時，傳統人工清洗往往需耗費數小時核對字段、剔除重復記錄。YMS系統通過自動解析引擎識別各類數據結構，檢測重復性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級。清洗后的數據統一歸入標準化數據庫，確保后續分析基于一致、干凈的數據源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識別與工藝優化建議。這種自動化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數據清洗作為YMS的基礎能力，支撐客戶實現高效、可靠的良率管理。浙江半導體GDBC系統

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發展理念，先進的管理經驗，在發展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創新，時刻準備著迎接更多挑戰的活力公司，在上海市等地區的數碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發圖強、一往無前的進取創新精神，努力把公司發展戰略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創造更有價值的產品，我們將以更好的狀態，更認真的態度，更飽滿的精力去創造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！