良率管理的目標(biāo)是將海量測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)通過自動化采集來自各類Tester平臺的多格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)清洗與整合，消除人工干預(yù)帶來的誤差與延遲。在此基礎(chǔ)上，系統(tǒng)構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，支持從批次級到晶圓級的多維度缺陷分析，例如識別某一時段內(nèi)邊緣區(qū)域良率驟降是否與刻蝕參數(shù)漂移相關(guān)。結(jié)合WAT、CP、FT數(shù)據(jù)的交叉驗證，可區(qū)分設(shè)計缺陷與制造偏差，縮短問題排查周期。SYL與SBL的自動計算與實時卡控，為關(guān)鍵指標(biāo)設(shè)置動態(tài)防線。周期性報告一鍵生成并支持PPT、Excel、PDF導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種從數(shù)據(jù)到行動的閉環(huán)機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)推動YMS成為行業(yè)提質(zhì)增效的基礎(chǔ)設(shè)施。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)在質(zhì)量事件發(fā)生時自動觸發(fā)設(shè)備維護工單，實現(xiàn)預(yù)防性維護。上海晶圓Mapping Inkless工具

當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時，只靠單一測試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架，建立跨階段關(guān)聯(lián)模型。例如，若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移，同時CP漏電流異常升高，YMS可自動關(guān)聯(lián)兩者趨勢，提示前道氧化工藝可能存在波動。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線與良率變化，快速鎖定關(guān)鍵影響因子，避免在封裝或測試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力，將問題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時，減少試產(chǎn)浪費。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測試數(shù)據(jù)，使YMS成為良率攻關(guān)的關(guān)鍵工具。西藏可視化GDBCPAT模塊通過統(tǒng)計方法識別電性參數(shù)異常但功能Pass的單元，剔除隱性風(fēng)險芯片。

芯片制造對良率控制的精度要求極高，YMS系統(tǒng)為此提供了從數(shù)據(jù)采集到根因分析的一站式解決方案。系統(tǒng)兼容多種測試平臺輸出的多格式文件，自動完成數(shù)據(jù)清洗與整合，確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數(shù)據(jù)一致性。通過關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT等階段的關(guān)鍵參數(shù)，系統(tǒng)可精確識別導(dǎo)致良率下降的工藝或設(shè)計問題，并以圖表形式展現(xiàn)芯片級缺陷分布與趨勢變化。靈活的報表引擎支持按周期自動生成分析簡報，便于跨部門協(xié)同與持續(xù)改進。這種精細(xì)化的數(shù)據(jù)治理能力，使企業(yè)在激烈競爭中保持質(zhì)量優(yōu)勢。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業(yè)軟件能力賦能中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)，其YMS系統(tǒng)已成為多家客戶提升產(chǎn)品競爭力的重要工具。

在晶圓制造過程中，制程偏差是導(dǎo)致良率損失的主要因素之一，其典型表現(xiàn)即為晶圓上Die的區(qū)域性集群失效。此類失效并非隨機分布，而是呈現(xiàn)出與特定制程弱點緊密相關(guān)的空間模式，例如由光刻熱點、CMP不均勻或熱應(yīng)力集中所導(dǎo)致的失效環(huán)、邊緣帶或局部區(qū)塊。然而，一個更為隱蔽且嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)在于，在這些完全失效的Die周圍，往往存在一個“受影響區(qū)”。該區(qū)域內(nèi)的Die雖然未發(fā)生catastrophicfailure，其內(nèi)部可能已產(chǎn)生參數(shù)漂移或輕微損傷，在常規(guī)的CP測試中，它們?nèi)阅軡M足規(guī)格下限而呈現(xiàn)出“Pass”的結(jié)果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測試中得以幸存，但其在后續(xù)封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用的嚴(yán)苛環(huán)境下，早期失效的風(fēng)險將明細(xì)高于正常芯片。為了將這類“過測”的潛在失效品精確識別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規(guī)的良率分析已不足以應(yīng)對。必須借助特定的空間識別算法，對晶圓測試圖譜進行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態(tài)，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據(jù)此將失效區(qū)周圍一定范圍內(nèi)的“PassDie”也定義為高風(fēng)險單元并予以剔除。這一操作是構(gòu)建高可靠性產(chǎn)品質(zhì)量防線中至關(guān)重要的一環(huán)。 Mapping Over Ink處理后的數(shù)據(jù)完整支持回溯為原始Probe格式，滿足客戶審計需求。

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實時測試流同步處理，無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動過濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師無需再耗費數(shù)小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。Mapping Over Ink處理提升產(chǎn)品市場競爭力，降低客戶投訴率。江西晶圓PAT服務(wù)商

Mapping Over Ink處理減少人工復(fù)核負(fù)擔(dān)，提升質(zhì)量控制效率。上海晶圓Mapping Inkless工具

在評估良率管理系統(tǒng)投入時，企業(yè)關(guān)注的不僅是初始采購成本，更是長期使用中的效率回報與服務(wù)保障。YMS系統(tǒng)提供模塊化配置方案，涵蓋軟件授權(quán)、必要定制、技術(shù)培訓(xùn)及持續(xù)運維支持，確保部署后穩(wěn)定運行與功能演進。系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等主流Tester設(shè)備，處理stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式數(shù)據(jù)，大幅減少人工清洗與整合工作量，降低隱性人力成本。透明的報價結(jié)構(gòu)避免隱性收費，使預(yù)算規(guī)劃更可控。同時，系統(tǒng)內(nèi)置的SYL/SBL自動計算與卡控、多維度良率分析及靈活報表導(dǎo)出功能，直接支撐質(zhì)量決策效率提升。這種“一次投入、持續(xù)賦能”的模式，明顯優(yōu)化了總體擁有成本。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，始終以合理定價與高價值交付贏得客戶信賴。上海晶圓Mapping Inkless工具

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