德國斯派克器公司SPECTRO全新研發的垂直同步雙觀測（DSOI）技術為提升ICP-OES的靈敏度提供了一種全新的解決方案。采用該技術解決了等離子體觀測的核心問題，靈敏度是傳統垂直觀測等離子體儀器的數倍，性能價格比優異。

SPECTRO創新的垂直同步雙觀測（DSOI）方式，使用兩個光學接口捕獲來自垂直等離子體的發射光，使得微弱信號的檢測能力大幅提升，同時又允許高濃度、重基體進樣。進一步降低了記憶效應和污染風險。DSOI技術將傳統垂直觀測系統的靈敏度提高了數倍，避免了垂直雙觀測結構的復雜缺點和降低了用戶使用成本。

即開即用

光學系統穩定，可抗較大溫度波動。消除了在零度以下進行冷卻的需要。先進的低噪聲線性陣列CMOS可避免信號溢出。讀出速度快， 動態范圍寬。

功率強勁

新的LDMOS 1700 W發生器有助于分析難于分析的各種基測限更低。無需額外的水冷裝置。整機預熱時間短，提高檢測效率

占地面積小

儀器采用了簡約的設計風格，超短進樣路徑，所有樣品導入組件都易于查看和維護。SPECTROGREEN的儀器進深短，易于擺放。在儀器預留足夠的空間放置待測樣品或額外的進樣裝置。

對光譜儀操作的技術人員,在使用儀器檢測樣品的時候,先要把儀器前方的圓孔對準需要檢測樣品的點,儀器要貼在上面,在扣動扳機開始檢測的時候,技術人員的手一定不能抖動,否則會影響到檢測的結果

器對于檢測的樣品也有要求.被測的物品表面必須保持整潔,才能避免其他元素的干擾.被測物品的表面有油污,或重金屬污染,會影響檢測結果