刻蝕技術（etchingtechnique），是在半導體工藝，按照掩模圖形或設計要求對半導體襯底表面或表面覆蓋薄膜進行選擇性或剝離的技術。刻蝕技術不是半導體器件和集成電路的基本制造工藝，而且還應用于薄膜電路、印刷電路和其他微細圖形的加工。刻蝕還可分為濕法刻蝕和干法刻蝕。普通的刻蝕過程大致如下：先在表面涂敷一層光致抗蝕劑，然后透過掩模對抗蝕劑層進行選擇性曝光，由于抗蝕劑層的已曝光部分和未曝光部分在顯影液中溶解速度不同，經過顯影后在襯底表面留下了抗蝕劑圖形，云南GaN材料刻蝕公司，以此為掩模就可對襯底表面進行選擇性，云南GaN材料刻蝕公司。如果襯底表面存在介質或金屬層，云南GaN材料刻蝕公司，則選擇以后，圖形就轉移到介質或金屬層上。干法刻蝕優點是：細線條操作安全，易實現自動化，無化學廢液，處理過程未引入污染，潔凈度高。云南GaN材料刻蝕公司
等離子刻蝕是將電磁能量（通常為射頻（RF））施加到含有化學反應成分（如氟或氯）的氣體中實現。等離子會釋放帶正電的離子來撞擊晶圓以去除（刻蝕）材料，并和活性自由基產生化學反應，與刻蝕的材料反應形成揮發性或非揮發性的殘留物。離子電荷會以垂直方向射入晶圓表面。這樣會形成近乎垂直的刻蝕形貌，這種形貌是現今密集封裝芯片設計中制作細微特征所必需的。一般而言，高蝕速率（在一定時間內去除的材料量）都會受到歡迎。反應離子刻蝕（RIE）的目標是在物理刻蝕和化學刻蝕之間達到較佳平衡，使物理撞擊（刻蝕率）強度足以去除必要的材料，同時適當的化學反應能形成易于排出的揮發性殘留物或在剩余物上形成保護性沉積（選擇比和形貌控制）。采用磁場增強的RIE工藝，通過增加離子密度而不增加離子能量（可能會損失晶圓）的方式，改進了處理過程。云南GaN材料刻蝕公司一般而言，高蝕速率（在一定時間內去除的材料量）都會受到歡迎。
等離子刻蝕的原理可以概括為以下幾個步驟：1、在低壓下，反應氣體在射頻功率的激發下，產生電離并形成等離子體，等離子體是由帶電的電子和離子組成，反應腔體中的氣體在電子的撞擊下，除了轉變成離子外，還能吸收能量并形成大量的活性基團（Radicals）2、活性反應基團和被刻蝕物質表面形成化學反應并形成揮發性的反應生成物3、反應生成物脫離被刻蝕物質表面，并被真空系統抽出腔體。在平行電等離子體反應腔體中，被刻蝕物是被置于面積較小的電上，在這種情況，一個直流偏壓會在等離子體和該電間形成，并使帶正電的反應氣體離子加速撞擊被刻蝕物質表面，這種離子轟擊可較大加快表面的化學反應，及反應生成物的脫附，從而導致比較高的刻蝕速率，正是由于離子轟擊的存在才使得各向異性刻蝕得以實現。
在微細加工中，刻蝕和清洗處理過程包括許多內容。對于適當取向的半導體薄片的鋸痕先要機械拋光，以除去全部的機械損傷，之后進行化學刻蝕和拋光，以獲得無損傷的光學平面。這種工藝往往能去除以微米級計算的材料表層。對薄片進行化學清洗和洗滌，可以除去因操作和貯存而產生的污染，然后用熱處理的方法生長Si0(對于硅基集成電路)，或者沉積氮化硅(對于砷化鎵電路)，以形成初始保護層。刻蝕過程和圖案的形成相配合。廣東省科學院半導體研究所。原位芯片目前掌握多種刻蝕工藝，并會根據客戶的需求，設計刻蝕效果好且高的刻蝕解決方案。
刻蝕是使用化學或者物理方法有選擇地從硅片表面去除不需要材料的過程，常用的設備為刻蝕機等。通常的晶圓加工流程中，刻蝕工藝位于光刻工藝之后，有圖形的光刻膠層在刻蝕中不會受到源的明顯侵蝕，從而完成圖形轉移的工藝步驟。為在硅片表面材料上復制掩膜圖案，刻蝕需要滿足一定的參數，主要有：刻蝕速率、刻蝕剖面、刻蝕偏差和選擇比等。刻蝕速率指刻蝕過程中去除硅片表面材料的速度；刻蝕剖面指的是刻蝕圖形的側壁形狀，通常分為各向同性和各向異性剖面；刻蝕偏差指的是線寬或關鍵尺寸間距的變化，通常由橫向鉆蝕引起；選擇比指的是同一刻蝕條件下兩種材料刻蝕速率比，高選擇比意味著不需要的材料會被刻除。按材料來分，刻蝕主要分成三種：金屬刻蝕、介質刻蝕、和硅刻蝕。云南GaN材料刻蝕公司
晶圓不同點刻蝕速率不同的情況稱為非均勻性（或者稱為微負載），通常以百分比表示。云南GaN材料刻蝕公司
工藝所用化學物質取決于要刻蝕的薄膜類型。介電刻蝕應用中通常使用含氟的化學物質。硅和金屬刻蝕使用含氯成分的化學物質。在工藝中可能會對一個薄膜層或多個薄膜層執行特定的刻蝕步驟。當需要處理多層薄膜時，以及刻蝕中必須停在某個特定薄膜層而不對其造成損傷時，刻蝕工藝的選擇比就變得非常重要。選擇比是兩個刻蝕速率的比率：被去除層的刻蝕速率與被保護層的刻蝕速率（例如刻蝕掩膜或終止層）。掩模或停止層）通常都希望有更高的選擇比。云南GaN材料刻蝕公司
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