硅材料在MEMS器件當中是很重要的一種材料。在硅材料刻蝕當中，應用于醫美方向的硅針刻蝕需要用到各向同性刻蝕，縱向和橫向同時刻蝕，硅柱的刻蝕需要用到各項異性刻蝕，主要是在垂直方向刻蝕，而橫向盡量少刻蝕。氮化鎵基超表面結構當中，氮化鎵材料的刻蝕需要使用氧化硅作為掩膜來刻蝕，而氧化硅的刻蝕需要使用Cr充當硬掩模。所以工藝當中，需要先在氮化鎵表面使用PECVD沉積一層氧化硅，采用剝離的方法在氧化硅表面生長一層Cr，使用ICP設備依次刻蝕氧化硅和氮化鎵。ICP刻蝕可以調節的刻蝕參數有：ICP 功率，貴州MEMS材料刻蝕公司，功率值越大，等離子體密度越大，射頻功率，功率值越大，等離子體能量越大，物理濺射加強。GaN的刻蝕一般是采用氯氣和三氯化硼，氣體比例的變化可以調節物理轟擊和化學反應的平衡，貴州MEMS材料刻蝕公司，貴州MEMS材料刻蝕公司。干法刻蝕也可以根據被刻蝕的材料類型來分類，如刻蝕氮化鎵、氧化硅、氮化硅、鋁鎵氮等材料。貴州MEMS材料刻蝕公司
光刻膠是另一個剝離的例子。總的來說，有圖形刻蝕和無圖形刻蝕工藝條件能夠采用干法刻蝕或濕法技術來實現。為了復制硅片表面材料上的掩膜圖形，刻蝕必須滿足一些特殊的要求。包括幾方面刻蝕參數：刻蝕速率、刻蝕剖面、刻蝕偏差、選擇比、均勻性、殘留物、聚合物、等離子體誘導損傷、顆粒玷污和缺陷等。刻蝕是用化學或物理方法有選擇的從硅片表面去除不需要的材料的過程。刻蝕的基本目標是在涂膠的硅片上正確的復制掩模圖形。有圖形的光刻膠層在刻蝕中不受源明顯的侵蝕。貴州MEMS材料刻蝕公司刻蝕技術主要應用于半導體器件，集成電路制造，薄膜電路，印刷電路和其他微細圖形的加工等。
在等離子蝕刻工藝中,發生著許多的物理現象。當在腔體中使用電（DC或RF激發）或微波產生一個強電場,這個電場會加速所有的自由電子并提高他們的內部能量(由于宇宙射線的原因,在任何環境中都會存在一些自由電子)。自由電子與氣體中的原子/分子發生撞擊,如果在碰撞過程中,電子傳遞了足夠的能量給原子/分子,就會發生電離現象,并且產生正離子和其他自由電子若碰撞傳遞的能量不足以激發電離現象則無法產生穩定且能發生反應的中性物當足夠的能量提供給系統,一個穩定的,氣相等離子體包含自由電子,正離子和反應中性物等離子蝕刻工藝中等離子體中的原子、分子離子、反應中性物通過物理和化學方式移除襯底表面的材料。純物理蝕刻采用強電場來加速正原子離子（通常使用重量較重,惰性的氬原子）朝向襯底，加速過程將能量傳遞給了離子,當它們撞擊到襯底表面時,內部的能量傳遞給襯底表面的原子,如果足夠的能量被傳遞,襯底表面的原子會被噴射到氣體中,較終被真空系統抽走。
刻蝕工藝主要分為兩種：干法刻蝕和濕法刻蝕。干法刻蝕是通過等離子氣與硅片發生物理或化學反應（或結合物理、化學兩種反應）的方式將表面材料去除，主要用于亞微米尺寸下刻蝕，由于具有良好的各向異性和工藝可控性已被普遍應用于芯片制造領域；濕法刻蝕通過化學試劑去除硅片表面材料，一般用于尺寸較大情況，目前仍用于干法刻蝕后殘留物的去除。金屬刻蝕主要應用于金屬互連線、通孔、接觸金屬等環節。金屬互連線通常采用鋁合金，對鋁的刻蝕采用氯基氣體和部分聚合物。鎢在多層金屬結構中常用作通孔的填充物，通常采用氟基或氯基氣體。按照被刻蝕的材料類型來劃分，干法刻蝕主要分成三種：金屬刻蝕、介質刻蝕和硅刻蝕。
刻蝕工藝去除晶圓表面的特定區域，以沉積其它材料。“干法”（等離子）刻蝕用于形成電路，而“濕法”刻蝕（使用化學浴）主要用于清潔晶圓。干法刻蝕是半導體制造中較常用的工藝之一。開始刻蝕前，晶圓上會涂上一層光刻膠或硬掩膜（通常是氧化物或氮化物），然后在光刻時將電路圖形曝光在晶圓上。刻蝕只去除曝光圖形上的材料。在芯片工藝中，圖形化和刻蝕過程會重復進行多次。等離子刻蝕是將電磁能量（通常為射頻（RF））施加到含有化學反應成分（如氟或氯）的氣體中實現。等離子會釋放帶正電的離子來撞擊晶圓以去除（刻蝕）材料，并和活性自由基產生化學反應，與刻蝕的材料反應形成揮發性或非揮發性的殘留物。離子電荷會以垂直方向射入晶圓表面。這樣會形成近乎垂直的刻蝕形貌，這種形貌是現今密集封裝芯片設計中制作細微特征所必需的。一般而言，高蝕速率（在一定時間內去除的材料量）都會受到歡迎。濕法仍然用來硅片上某些層或用來去除干法刻蝕后的殘留物。珠海GaN材料刻蝕公司
ICP刻蝕設備能夠進行(氮化鎵）、(氮化硅）、（氧化硅）、(鋁鎵氮）等半導體材料進行刻蝕。貴州MEMS材料刻蝕公司
氮化硅的干法刻蝕S13N4在半導體工藝中主要用在兩個地方。1、用做器件區的防止氧化保護層（厚約lOOnm）。2、作為器件的鈍化保護層。在這兩個地方刻蝕的圖形尺寸都比較大，非等向的刻蝕就不那么重要了。刻蝕Si3N4時下方通常是厚約25nm的Si02，為了避免對Si02層的刻蝕，Si3N4與S102之間必須有一定的刻蝕選擇比。S13N4的刻蝕基本上與Si02和Si類似，常用CF4+0等離子體來刻蝕。但是Si-N鍵強度介于Si-Si與Si-0之間，因此使Si3N4對Si或Si02的刻蝕選擇比均不好。在CF4的等離子體中，Si對Si3N4的選擇比約為8，而Si3N4對Si02的選擇比只有2一3，在這么低的刻蝕選擇比下，刻蝕時間的控制就變得非常重要。除了CF4外，也有人改用蘭氟化氮(NF3)的等離子體來刻蝕Si3N4，雖然刻蝕速率較慢，但可獲得可以接受的Si3N4/Si02的刻蝕選擇比。貴州MEMS材料刻蝕公司
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