ORI光學(xué)鏡頭測(cè)試系統(tǒng)是一臺(tái)通用型光學(xué)鏡頭測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以測(cè)量鏡頭的所有重要參數(shù)：MTF，分辨率，EFL，畸變，漸暈，透過率，BFL，工作焦距，焦深，場(chǎng)曲，色差等。可測(cè)試波段涵蓋了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR，也可用于測(cè)試多波段光學(xué)系統(tǒng)，列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。

ORI測(cè)試系統(tǒng)原理：目標(biāo)發(fā)生器放置在被測(cè)鏡頭的焦平面上形成一套投影系統(tǒng)，透射出的平行光入射平行光管，蕞終成像到相機(jī)的接收面上。ORI測(cè)試系統(tǒng)蕞大的特點(diǎn)是采用逆光路測(cè)量原理，較一般正光路的測(cè)量系統(tǒng)具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。 光電測(cè)試，助力風(fēng)電行業(yè)，提升葉片質(zhì)量檢測(cè)。黑龍江光電測(cè)試系統(tǒng)品牌

一系列不同的輻射源可以用在投影系統(tǒng)中（光譜范圍擴(kuò)展到SWIR的光源或者M(jìn)TB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統(tǒng)中的靶標(biāo)也可用于測(cè)量。測(cè)量成像整機(jī)系統(tǒng)軸校準(zhǔn)：電控的測(cè)試系統(tǒng)生成由被測(cè)試熱像儀及相機(jī)生成的圖像并計(jì)算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場(chǎng)下的光軸；b)相機(jī)在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機(jī)之間的光軸。激光系統(tǒng)軸對(duì)準(zhǔn)：計(jì)算機(jī)控制的測(cè)量系統(tǒng)分析激光系統(tǒng)在激光敏感卡上生成的圖像并計(jì)算光軸間的夾角：激光光軸（激光測(cè)距儀，激光指示器，激光照射器等）相對(duì)于成像系統(tǒng)光軸。注意：MS系統(tǒng)可以進(jìn)行激光測(cè)距儀發(fā)射光軸的校準(zhǔn)。這里假定激光測(cè)距儀發(fā)射光軸與接收已經(jīng)調(diào)整好。這里可選測(cè)量激光測(cè)距儀的光軸對(duì)MS系統(tǒng)軸的能力。測(cè)量SWIR相機(jī)：SIWR投影系統(tǒng)與圖像分析計(jì)算機(jī)系統(tǒng)相結(jié)合來測(cè)量SIWR相機(jī)。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標(biāo)；測(cè)量不同圖像格式的熱像儀：當(dāng)采用模擬視頻采集卡并且測(cè)量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時(shí)；也可以選擇數(shù)字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測(cè)量高分辨率高幀頻的數(shù)字輸出傳感器。黑龍江光電測(cè)試系統(tǒng)品牌IR FPA 傳感器 焦平面陣列傳感器，為智能穿戴設(shè)備提供精細(xì)傳感器測(cè)試。

MTB系列黑體是精密的面源黑體，旨在模擬中溫目標(biāo)。使用一個(gè)薄的面加熱元件來控制散熱器溫度。黑體散熱器的***溫度可以調(diào)節(jié)在約50攝氏度到550攝氏度之間。發(fā)射器面積可以從50x50mm到500x500mm，具體取決于型號(hào)。應(yīng)用MTB黑體可用于一系列可能的應(yīng)用：1、在中溫范圍內(nèi)測(cè)量熱像儀的精度（已知溫度的面源）。2、監(jiān)控系統(tǒng)SWIR成像儀3、用于測(cè)試SWIR/MWIRFPAs的系統(tǒng)

至高溫度：典型的至高溫度為550℃。如果不需要這樣的溫度，則最高溫度可以降低到350℃，并且提供更好的熱均勻性。

可見光靶標(biāo)主要分為兩類：A)反射式靶標(biāo)，B）透射式靶標(biāo)。反射式靶標(biāo)無法提供高精度的靶標(biāo)圖形因此只能用于可見光成像系統(tǒng)簡(jiǎn)單的評(píng)估測(cè)試。透射式靶標(biāo)的精度可以達(dá)到次微米級(jí)，通常采用在干凈的玻璃基板上光刻的方法而得到。Inframet采用USAF 1951靶標(biāo)，其具備很好的通用性，既支持低分辨率相機(jī)測(cè)試，也同時(shí)支持高分辨率相機(jī)測(cè)試。

產(chǎn)品參數(shù)：

參數(shù)：數(shù)值

圖案類型：3桿

圖案組數(shù)：0到7(可選0-8)

空間頻率范圍：1-228lp/mm(可選1-456lp/mm)

對(duì)比度：百分之二到100%

基板：鈉鈣玻璃(可選石英)

圖形鍍膜：鉻

靶標(biāo)板尺寸：23x23mm 光電系統(tǒng)，提升化工原料純度檢測(cè)精度。

ST測(cè)試系統(tǒng)使用一系列不同的靶標(biāo)來投影標(biāo)準(zhǔn)靶標(biāo)圖形到被測(cè)試的短波紅外相機(jī)，短波紅外相機(jī)生成畸變的靶標(biāo)圖像由計(jì)算機(jī)采集并由人眼主觀或者軟件來計(jì)算得到短波紅外相機(jī)的重要參數(shù)。

ST測(cè)試系統(tǒng)包括了反射式平行光管，帶寬光源，中溫黑體，旋轉(zhuǎn)靶輪，一組靶標(biāo)，一組濾波片，PC，圖像采集卡以及測(cè)試軟件組成。

特征：一、支持模擬三種不同的情況：1）反射多色輻射結(jié)構(gòu)（系統(tǒng)采用SAL光源）；2）發(fā)射輻射配置（系統(tǒng)采用MTB中溫黑體）；3）單色光源配置（SAL光源配置帶通濾波器）。二、支持測(cè)試光學(xué)口徑不大于100mm短波紅外相機(jī)；三、支持模擬很暗的夜晚環(huán)境以及很亮的白天環(huán)境；四、支持模擬目標(biāo)的溫度可達(dá)600oC；五、模塊:CDT1000平行光管，SAL光源，MTB-2D中溫黑體，MRW-8旋轉(zhuǎn)靶輪，一組靶標(biāo)，1550nm帶通濾波片，圖像采集卡，MTB控制程序，SAL控制程序，TAS-S程序； INFRAMET SIM 熱成像光電測(cè)試系 統(tǒng)，精確把控汽車制造關(guān)鍵環(huán)節(jié)。進(jìn)口光電測(cè)試系統(tǒng)代理商

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Inframet生產(chǎn)的離軸反射式平行光管采用垂直結(jié)構(gòu)，平行光管的焦平面位于反射鏡垂直方向的上方。這種類型的平行光管實(shí)現(xiàn)了測(cè)試系統(tǒng)的簡(jiǎn)單化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)（只需較小、較窄的光學(xué)平臺(tái)）。而且，垂直結(jié)構(gòu)的平行光管更為先進(jìn)之處在于系統(tǒng)用于熱像儀的測(cè)試時(shí)，垂直結(jié)構(gòu)的黑體溫度的均勻性要優(yōu)于使用相同模塊的水平結(jié)構(gòu)。

Inframet使用三個(gè)等級(jí)的離軸反射鏡面：?SR（標(biāo)準(zhǔn)分辨率）-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。?HR（高分辨率）-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm（典型λ/10）。?UR（超高分辨率）-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm。?SQ（極高分辨率）-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。 黑龍江光電測(cè)試系統(tǒng)品牌