常見的干涉儀包括：邁克爾遜干涉儀：由阿爾伯特·邁克爾遜發明，主要用于測量光的波長、干涉條紋的變化等。它通過將光束分成兩部分，分別經過不同的路徑后再合并，形成干涉圖樣。法布里-佩**涉儀：由查爾斯·法布里和阿爾弗雷德·佩羅發明，主要用于高精度的光譜分析。它通過多次反射在兩個平面鏡之間形成干涉。光纖干涉儀：利用光纖中的光波干涉現象，廣泛應用于傳感器、通信等領域。干涉儀的應用包括測量微小位移、折射率、波長、材料的光學特性等。在科學研究和工業檢測中，干涉儀是一種非常重要的工具。雙頻激光干涉儀是一種利用兩種不同頻率的激光光源進行干涉測量的儀器。工業園區本地雙頻激光干涉儀設備廠家

雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。和單頻激光干涉儀一樣，雙頻激光干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。雙頻激光干涉儀可以在恒溫，恒濕，防震的計量室內檢定量塊，量桿，刻尺和坐標測量機等。它既可以對幾十米的大量程進行精密測量，也可以對手表零件等微小運動進行精密測量，既可以對幾何量如長度、角度．直線度、平行度、平面度、垂直度等進行測量，也可以用于特殊場合，諸如半導體光刻技術的微定位和計算機存儲器上記錄槽間距的測量等等。相城區新款雙頻激光干涉儀性價比高精度：雙頻激光干涉儀能夠實現亞納米級別的測量精度，適用于微小位移的檢測。

基于菲索干涉儀的等厚干涉原理設計，通過對比被測平面與標準參照鏡的干涉條紋變化，實現光學元件表面形狀誤差和材料均勻性的非接觸式測量 [1] [3-4]。標準參照鏡面形精度通常達到p-v:λ/20 [3-4]。測量口徑：Φ60mm（典型型號） [3-4]對準方式：兩點對準系統 [3-4]結構特性：小型化設計、防塵性能優異 [3-4]精度范圍：根據型號不同覆蓋1/10-1/100波長梯度 [11.光學制造：檢測平面鏡、棱鏡等光學元件表面面型2.質量檢測：評估光學材料均勻性與透鏡波前像差 [1]3.科研實驗：實驗室環境下進行精密光學計量分析

按干涉光來源區分：分為波前分解干涉儀和幅度分解干涉儀。波前分解干涉儀利用波前上不同位置的子波源形成干涉，如楊氏雙縫干涉；而幅度分解干涉儀則通過界面部分反射等方式將一束入射光分為兩束或多束形成干涉，如斐索干涉儀、邁克爾遜干涉儀和法布里-珀**涉儀等。四、應用干涉儀在多個領域都有廣泛應用，包括但不限于：光學測量：用于測量光波的波長、頻率和相位差。材料科學：用于分析材料的折射率、厚度和表面形貌。生物醫學：用于顯微鏡成像、生物傳感和醫學診斷。天文學：用于測量星體的直徑等。由于其高精度和高靈敏度，激光干涉儀在科學研究和工業應用中都具有重要的地位。

若干涉條紋發生移動，一定是場點對應的光程差發生了變化，引起光程差變化的原因，可能是光線長度L發生變化，或是光路中某段介質的折射率n發生了變化，或是薄膜的厚度e發生了變化。S為點光源，M1（上邊）、M2（右邊）為平面全反射鏡，其中M1是定鏡；M2為動鏡，它和精密螺絲相連，轉動鼓輪可以使其向前后方向移動，最小讀數為10mm，可估計到10mm,。M1和M2后各有3個小螺絲可調節其方位。G1（左）為分光鏡，其右表面鍍有半透半反膜，使入射光分成強度相等的兩束（反射光和透射光）。在科學研究和工業檢測中，干涉儀是一種非常重要的工具。常熟附近雙頻激光干涉儀選擇

雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。工業園區本地雙頻激光干涉儀設備廠家

激光干涉儀是一種利用激光干涉原理進行測量的精密儀器。它通過將激光束分成兩部分，分別經過不同的路徑后再合并，形成干涉圖樣，從而可以精確測量光程差、位移、厚度等物理量。激光干涉儀的基本原理可以概括為以下幾個步驟：激光發射：激光器發出單色光束。光束分割：通過分束器將激光束分成兩部分，通常稱為參考光束和測量光束。光程傳播：參考光束和測量光束分別經過不同的路徑，可能會經過被測物體或介質。光束合并：兩束光在分束器后重新合并，形成干涉圖樣。工業園區本地雙頻激光干涉儀設備廠家

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