X射線譜儀能譜儀電子束轟擊樣品表面將產(chǎn)生特征X射線，不同的元素有不同的X射線特征波長和能量。通過鑒別其特征波長或特征能量就可以確定所分析的元素。利用特征波長來確定元素的儀器叫做波長色散譜儀（波譜儀），利用特征能量的就稱為能量色散譜儀（能譜儀）。1、波譜儀波譜儀的關(guān)鍵在于怎樣實(shí)現(xiàn)將未知的特征譜線與已知元素Z聯(lián)系起來？為此設(shè)想有一種晶面間距為d的特定晶體（我們稱為分光晶體），當(dāng)不同特征波長λ的X射線照射其上時(shí)，如果滿足布拉格條件（2dsinθ=λ）將產(chǎn)生衍射。顯然，對(duì)于任意一個(gè)給定的入射角θ*有一個(gè)確定的波長λ滿足衍射條件。主要用來分析固體物質(zhì)表面的細(xì)小顆?；蛭⑿^(qū)域，小范圍直徑為1μm左右。閔行區(qū)質(zhì)量探針售價(jià)

用此探針在DNA文庫中篩選，陽性克隆即是目標(biāo)蛋白的編碼基因。值得一提的是真核細(xì)胞和原核細(xì)胞DNA組織有所不同。真核基因中含有非編碼的內(nèi)含子序列，而原核則沒有。因此，真核基因組DNA探針用于檢測(cè)基因表達(dá)時(shí)雜交效率要明顯低于cDNA探針。DNA探針（包括cDNA探針）的主要優(yōu)點(diǎn)有下面三點(diǎn)：①這類探針多克隆在質(zhì)粒載體中，可以無限繁殖，取之不盡，制備方法簡便。②DNA探針不易降解（相對(duì)RNA而言），一般能有效抑制DNA酶活性。③DNA探針的標(biāo)記方法較成熟，有多種方法可供選擇，如缺口平移，隨機(jī)引物法，PCR標(biāo)記法等，能用于同位素和非同位素標(biāo)記。普陀區(qū)質(zhì)量探針五星服務(wù)電子探針又稱微區(qū)X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。

3 面分析用于測(cè)定某種元素的面分布情況。方法是將X射線譜儀固定在所要測(cè)量的某元素特征X射線信號(hào)的位置上，電子束在樣品表面做光柵掃描，此時(shí)在熒光屏上便可看到該元素的面分布圖像。顯像管的亮度由試樣給出的X射線強(qiáng)度調(diào)制。圖像中的亮區(qū)表示這種元素的含量較高。定量分析定量分析時(shí)，先測(cè)得試樣中Y元素的特征X射線強(qiáng)度IY，再在同一條件下測(cè)出已知純?cè)豗的標(biāo)準(zhǔn)試樣特征X射線強(qiáng)度IO。然后兩者分別扣除背底和計(jì)數(shù)器死時(shí)間對(duì)所測(cè)值的影響，得到相應(yīng)的強(qiáng)度值IY和IO，兩者相除得到X射線強(qiáng)度之比KY= IY / IO。 直接將測(cè)得的強(qiáng)度比KY當(dāng)作試樣中元素Y的重量濃度，其結(jié)果還有很大誤差，通常還需進(jìn)行三種效應(yīng)的修正。即原子序數(shù)效應(yīng)的修正，吸收效應(yīng)修正，熒光效應(yīng)修正。經(jīng)過修正，誤差可控制在±2%以內(nèi)。

為了確定探針是否與相應(yīng)的基因組DNA雜交，有必要對(duì)探針加以標(biāo)記，以便在結(jié)合部位獲得可識(shí)別的信號(hào),通常采用放射性同位素32P標(biāo)記探針的某種核苷酸α磷酸基。但近年來已發(fā)展了一些用非同位素如生物素-親合素系統(tǒng)、地高辛配體等作為標(biāo)記物的方法。非同位素標(biāo)記的優(yōu)點(diǎn)是保存時(shí)間較長,而且避免了同位素的污染。**常用的探針標(biāo)記法是缺口平移法(nick translation)。首先用適當(dāng)濃度的DNA酶Ⅰ（DNAseⅠ）在探針DNA雙鏈上造成缺口，然后再借助于DNA聚合酶Ⅰ（DNa poly merasⅠ）的5’→3’的外切酶活性，切去帶有5’磷酸的核苷酸；同時(shí)又利用該酶的5’→3’聚酶活性，使32P標(biāo)記的互補(bǔ)核苷酸補(bǔ)入缺口，DNA聚合酶Ⅰ的這兩種活性的交替作用，使缺口不斷向3’的方向移動(dòng)，同時(shí)DNA鏈上的核苷酸不斷為32P標(biāo)記的核苷酸所取代。光學(xué)顯微鏡目測(cè)系統(tǒng)。用以準(zhǔn)確選擇需要分析的區(qū)域，并作光學(xué)觀察。

電子探針分析是指以聚焦的高速電子來激發(fā)出試樣表面組成元素的特征X射線，對(duì)微區(qū)成分進(jìn)行定性或定量分析的一種材料物理試驗(yàn)，又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針分析的原理是：以動(dòng)能為10～30千電子伏的細(xì)聚焦電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內(nèi)層電子，使原子電離，此時(shí)外層電子迅速填補(bǔ)空位而釋放能量，從而產(chǎn)生特征X射線。電子探針的功能主要是進(jìn)行微區(qū)成分分析。它是在電子光學(xué)和X射線光譜學(xué)原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種高效率分析儀器。其原理是用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面，激發(fā)出樣品元素的特征x射線，分析特征X射線的波長（或特征能量）即可知道樣品中所含元素的種類（定性分析），分析X射線的強(qiáng)度，則可知道樣品中對(duì)應(yīng)元素含量的多少（定量分析）。對(duì)于任意一個(gè)給定的入射角θ有一個(gè)確定的波長λ滿足衍射條件。閔行區(qū)質(zhì)量探針售價(jià)

計(jì)算時(shí)應(yīng)用布拉格方程：nλ=2dsinθ。閔行區(qū)質(zhì)量探針售價(jià)

利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學(xué)組成以及各元素的重量百分?jǐn)?shù)。分析前要根據(jù)試驗(yàn)?zāi)康闹苽錁悠?，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時(shí)要求樣品平整，否則會(huì)降低測(cè)得的X射線強(qiáng)度。定性分析1 點(diǎn)分析用于測(cè)定樣品上某個(gè)指定點(diǎn)的化學(xué)成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點(diǎn)分析結(jié)果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號(hào)同時(shí)檢測(cè)和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測(cè)定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測(cè)量的某元素特征X射線信號(hào)（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強(qiáng)度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強(qiáng)度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像。可見，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強(qiáng)。閔行區(qū)質(zhì)量探針售價(jià)

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