維度光電提供光束質(zhì)量測(cè)量解決方案，適用于工業(yè)、醫(yī)療、科研等多個(gè)領(lǐng)域。在工業(yè)制造中，用于激光切割和焊接的狹縫式分析儀能實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)激光束能量分布，優(yōu)化加工精度；半導(dǎo)體加工中，超高分辨率檢測(cè)技術(shù)支持晶圓劃片工藝優(yōu)化。醫(yī)療健康方面，相機(jī)式分析儀用于眼科手術(shù)中激光參數(shù)優(yōu)化，保障手術(shù)安全；M2因子模塊用于醫(yī)療激光設(shè)備校準(zhǔn)。領(lǐng)域，雙技術(shù)組合用于解析飛秒激光特性，支持非線性光學(xué)。光通信領(lǐng)域，相機(jī)式分析儀優(yōu)化光器件耦合效率，狹縫式分析儀確保激光器性能一致性。新興領(lǐng)域如光鑷系統(tǒng)和激光育種也受益于該方案。方案特點(diǎn)包括全場(chǎng)景適配、智能分析軟件和模塊化擴(kuò)展，以滿(mǎn)足不同需求和長(zhǎng)期升級(jí)。激光光斑的光斑尺寸、形狀、強(qiáng)度分布、M2因子、空間位置與穩(wěn)定性測(cè)試。光斑橢圓率分析工具

Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列采用國(guó)內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù)，覆蓋 190-2700nm 寬光譜，可測(cè) 2.5μm-10mm 光束直徑，0.1μm 超高分辨率突破傳統(tǒng)檢測(cè)極限。其創(chuàng)新設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)三大優(yōu)勢(shì)： 雙模式自適應(yīng)檢測(cè) 通過(guò)軟件切換刀口 / 狹縫模式，分析 < 20μm 極小光斑形態(tài)或 10mm 大光斑能量分布，全量程無(wú)盲區(qū)。 高功率直接測(cè)量 狹縫物理衰減機(jī)制允許單次通過(guò)狹縫區(qū)域光，無(wú)需外置衰減片即可安全測(cè)量近 10W 高功率激光。 超分辨率成像 基于狹縫掃描原理實(shí)現(xiàn) 0.1μm 分辨率，完整捕捉亞微米級(jí)光斑細(xì)節(jié)，避免能量分布特征丟失。 設(shè)備內(nèi)置正交狹縫轉(zhuǎn)動(dòng)輪，通過(guò)旋轉(zhuǎn)掃描同步采集 XY 軸功率數(shù)據(jù)，經(jīng)算法處理輸出光束直徑、橢圓率等 20 + 參數(shù)。緊湊模塊化設(shè)計(jì)適配多場(chǎng)景安裝，通過(guò) CE/FCC 認(rèn)證，適用于激光加工、醫(yī)療設(shè)備及科研領(lǐng)域，助力客戶(hù)提升光束質(zhì)量檢測(cè)精度與效率?？梢?jiàn)光光斑分析儀測(cè)量光束質(zhì)量分析儀推薦？維度光電 M2 因子測(cè)量模塊；

維度光電國(guó)產(chǎn)光束質(zhì)量分析解決方案破局之路 國(guó)內(nèi)激光光束質(zhì)量分析市場(chǎng)長(zhǎng)期被歐美品牌壟斷，存在三大痛點(diǎn)：產(chǎn)品型號(hào)單一（無(wú)法兼顧亞微米光斑與高功率檢測(cè)）、定制周期漫長(zhǎng)（3-6 個(gè)月周期）、服務(wù)響應(yīng)滯后（返廠維修影響生產(chǎn) 35 天 / 次）。 全場(chǎng)景產(chǎn)品矩陣 狹縫式：0.1μm 分辨率，直接測(cè) 10W 激光，支持 ±90° 任意角度掃描，滿(mǎn)足半導(dǎo)體加工等亞微米級(jí)需求 相機(jī)式：5.5μm 像元精度，6 片濾光片轉(zhuǎn)輪實(shí)現(xiàn) 1μW-1W 寬功率檢測(cè)，擅長(zhǎng)復(fù)雜光斑分析 定制化服務(wù)：12 項(xiàng)定制選項(xiàng)（波長(zhǎng)擴(kuò)展、自動(dòng)化接口等），短交付周期 5 天 未來(lái)將聚焦多模態(tài)光束分析與智能化診斷，為智能制造、醫(yī)療科技等提供技術(shù)支撐。

使用 BeamHere 光斑分析儀測(cè)量激光光斑和質(zhì)量，包括以下步驟： 準(zhǔn)備：準(zhǔn)備 BeamHere 光斑分析儀、激光器和數(shù)據(jù)處理軟件。確保光斑傳感器放置并連接到計(jì)算機(jī)。 數(shù)據(jù)采集：?jiǎn)?dòng)激光器，穩(wěn)定照射傳感器，實(shí)時(shí)傳輸圖像信息到計(jì)算機(jī)。 數(shù)據(jù)分析：BeamHere 軟件自動(dòng)處理數(shù)據(jù)，計(jì)算光斑參數(shù)和光束質(zhì)量參數(shù)，支持 2D/3D 視圖。 結(jié)果展示：軟件以圖表和數(shù)值展示結(jié)果，一鍵生成包含所有數(shù)據(jù)的測(cè)試報(bào)告，便于導(dǎo)出和打印。 這些步驟幫助用戶(hù)測(cè)量光斑和光束質(zhì)量，支持激光技術(shù)。有沒(méi)有一體化的光斑分析儀和 M2 因子測(cè)量模塊產(chǎn)品？

使用維度光電BeamHere 光斑分析儀開(kāi)展光斑與光束質(zhì)量測(cè)量的流程 系統(tǒng)搭建：將 BeamHere 相機(jī)式光斑分析儀的傳感器置于激光束路徑，通過(guò)支架調(diào)節(jié)位置確保光斑完整覆蓋 sensor。使用 USB 3.0 數(shù)據(jù)線連接設(shè)備與電腦，安裝 BeamHere V3.2 軟件并完成驅(qū)動(dòng)校準(zhǔn)。 數(shù)據(jù)采集：開(kāi)啟半導(dǎo)體激光器至穩(wěn)定輸出狀態(tài)，軟件選擇 "連續(xù)采集" 模式，設(shè)置曝光時(shí)間 50μs，幀率 100fps，同步觸發(fā)激光器確保單脈沖捕捉。 參數(shù)提?。很浖詣?dòng)識(shí)別光斑區(qū)域，計(jì)算 FWHM 直徑（XY 軸）、橢圓率、能量集中度等 12 項(xiàng)基礎(chǔ)參數(shù)，同時(shí)基于 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法生成 M2 因子、瑞利長(zhǎng)度等光束質(zhì)量指標(biāo)。 可視化分析：切換至 3D 視圖旋轉(zhuǎn)觀察能量分布，通過(guò) "刀邊法" 驗(yàn)證光斑對(duì)稱(chēng)性，標(biāo)記異常區(qū)域進(jìn)行局部放大分析。 報(bào)告輸出：點(diǎn)擊 "生成報(bào)告" 按鈕，自動(dòng)插入測(cè)試日期、激光器參數(shù)、測(cè)量曲線等內(nèi)容，支持 PDF/A4 排版或自定義 LOGO 導(dǎo)出。掃描狹縫光斑分析儀有國(guó)產(chǎn)的嗎？光斑分析儀有哪些型號(hào)

用于千瓦光斑測(cè)量的大功率配件。光斑橢圓率分析工具

如何使用光斑分析儀 Step 1 準(zhǔn)備設(shè)備 將 BeamHere 光斑分析儀固定在光具座上，調(diào)整高度使激光束中心與 sensor 靶面重合。用 Type-C 線連接分析儀與電腦，打開(kāi) BeamHere 軟件等待設(shè)備識(shí)別。 Step 2 采集數(shù)據(jù) 開(kāi)啟激光器預(yù)熱 10 分鐘，點(diǎn)擊軟件 "開(kāi)始采集" 按鈕。實(shí)時(shí)觀察 2D 成像界面，確保光斑無(wú)過(guò)曝或欠曝，可通過(guò)轉(zhuǎn)輪調(diào)節(jié)衰減片至合適狀態(tài)。 Step 3 分析參數(shù) 在 "高級(jí)分析" 模塊勾選所需參數(shù)，軟件自動(dòng)計(jì)算光斑尺寸（±0.5μm 精度）、能量均勻性（CV 值）及光束質(zhì)量因子。3D 視圖支持手勢(shì)縮放，便于觀察高階橫模分布。 Step 4 驗(yàn)證結(jié)果 切換至 "歷史記錄" 對(duì)比多次測(cè)量數(shù)據(jù)，使用 "統(tǒng)計(jì)分析" 功能生成標(biāo)準(zhǔn)差曲線。若發(fā)現(xiàn)異常，可調(diào)用 "單點(diǎn)測(cè)量" 工具檢查特定位置能量值。 Step 5 導(dǎo)出報(bào)告 在 "報(bào)告模板" 中選擇 "科研版" 或 "工業(yè)版"，自動(dòng)生成帶水印的 PDF 報(bào)告，包含光斑圖像、參數(shù)表格、趨勢(shì)圖表及 QC 判定結(jié)果。光斑橢圓率分析工具