實驗室天平稱量磁性樣品(如磁鐵、含鐵合金、磁性粉末)時,需規(guī)避磁場對稱量傳感器的干擾,保障數(shù)據(jù)準確。磁性樣品產(chǎn)生的磁場會影響傳感器內(nèi)部磁場平衡,導(dǎo)致稱量數(shù)值出現(xiàn)固定偏差或波動,因此需采取隔離措施。常用方法是在稱量盤與樣品之間放置非磁性隔離板,隔離板材質(zhì)多為銅、鋁或亞克力,厚度通常為 2-5mm,既能阻擋磁場傳導(dǎo),又不會對稱量精度產(chǎn)生明顯影響。隔離板需平整放置在稱量盤,確保樣品放置后重心居中,避免因隔離板傾斜導(dǎo)致額外誤差。若樣品磁性較強,可使用雙層隔離板,或選擇帶有抗磁功能的天平,這類天平傳感器采用抗磁材質(zhì)包裹,能大幅降低磁場干擾,適合長期稱量磁性樣品的場景(如材料科學(xué)實驗室)。稱量前需確認隔離板質(zhì)量已通過去皮操作清零,避免其質(zhì)量計入樣品稱量結(jié)果;稱量完成后,需將磁性樣品遠離天平存放,防止長期磁場影響天平傳感器性能,確保設(shè)備處于無磁干擾的環(huán)境中。實驗室天平稱量時需關(guān)閉附近通風設(shè)備。山東實驗室天平實驗室必備

實驗室天平的操作面板易沾染指紋、灰塵與試劑殘留,定期清潔與維護能保障按鍵靈敏性與設(shè)備壽命。清潔前需關(guān)閉天平電源,避免水分進入內(nèi)部電路,清潔工具選擇干燥的無塵布或軟毛刷,不可使用濕布或帶腐蝕性的清潔劑。對于按鍵表面的指紋與輕微污漬,用無塵布輕輕擦拭即可;若有干涸的試劑殘留(如粉末狀試劑),先用軟毛刷清掃縫隙中的殘留,再用無塵布蘸取少量蒸餾水輕輕擦拭,擦拭后用干布擦干,確保無水分殘留。清潔時需避免用力按壓按鍵,防止按鍵變形或內(nèi)部觸點損壞;對于帶有觸摸屏的操作面板,需使用屏幕清潔劑,噴灑在無塵布上后輕輕擦拭,不可直接將清潔劑噴在屏幕上,防止液體滲入屏幕內(nèi)部。維護方面,需每月檢查按鍵是否靈敏,按下按鍵時觀察顯示屏是否有相應(yīng)反饋,若某一按鍵響應(yīng)遲緩或無響應(yīng),需檢查按鍵表面是否有異物堵塞,清理后仍異常需聯(lián)系維修人員,避免因按鍵問題影響稱量操作。合肥小量程實驗室天平實驗室天平稱量數(shù)據(jù)需保留有效數(shù)字位數(shù)。

實驗室天平防風罩玻璃易沾染灰塵、指紋與試劑殘留,定期清潔與及時更換能保障觀察清晰度與防風效果。清潔時,先關(guān)閉防風罩門,用干燥的無塵布擦拭玻璃外表面,去除灰塵與指紋;若有頑固污漬(如干涸的液體試劑),可將中性清潔劑稀釋后蘸取在無塵布上,輕輕擦拭污漬處,再用干凈的無塵布擦干,避免清潔劑殘留導(dǎo)致玻璃模糊。清潔內(nèi)表面時,需打開防風罩門,用軟毛刷清掃玻璃內(nèi)側(cè)的粉末殘留,再用無塵布蘸取少量蒸餾水擦拭,擦拭后需等待玻璃完全干燥后再關(guān)閉防風罩,防止水分凝結(jié)影響稱量。若防風罩玻璃出現(xiàn)裂紋、破損或嚴重劃痕,需及時更換,更換前需確認新玻璃與天平型號適配,可通過天平說明書獲取玻璃尺寸與安裝方式。更換步驟:先取下破損玻璃,清理防風罩框架內(nèi)的玻璃碎片,再將新玻璃平穩(wěn)放入框架中,確保玻璃與框架緊密貼合,無松動或縫隙;部分天防風罩玻璃帶有卡扣,需卡緊到位,防止使用時玻璃移位。更換后需檢查防風效果,關(guān)閉防風罩門后觀察是否有明顯縫隙,確保能有效隔絕外界氣流。
實驗室天平長期閑置時,需做好存放與維護,避免設(shè)備性能退化。存放前需徹底清潔設(shè)備,用軟毛刷清掃稱量盤與防風罩內(nèi)部,用無塵布蘸蒸餾水擦拭外殼,確保無樣品殘留與污漬;同時檢查天平水平狀態(tài),將支腳調(diào)至短,減少底座受力。存放環(huán)境需滿足干燥(相對濕度 40%-60%)、通風、無陽光直射的條件,避免潮濕導(dǎo)致內(nèi)部元器件受潮生銹,或強光照射加速塑料部件老化??蓪⑻炱椒湃敕缐m罩,防塵罩需透氣良好,避免密閉環(huán)境滋生霉菌;若天平配備可拆卸部件(如稱量盤、防風罩玻璃),可單獨包裹存放,防止存放過程中碰撞損壞。閑置期間建議每 3 個月通電預(yù)熱一次,每次預(yù)熱 30 分鐘,讓內(nèi)部電路與傳感器保持活性,避免長期斷電導(dǎo)致電容老化;通電時需檢查顯示屏、按鍵功能是否正常,若發(fā)現(xiàn)異常需及時聯(lián)系維修人員處理,確保再次使用時設(shè)備性能達標。觸摸屏實驗室天平需定期校準觸摸精度。

實驗室天平的量程校準是確保不同稱量范圍精度達標的重要操作,需按規(guī)范流程進行,及時修正偏差。量程校準需使用符合國家標準的標準砝碼,砝碼質(zhì)量需覆蓋天平的常用量程(如天平最大稱量值為 200g,需準備 50g、100g、200g 的標準砝碼),校準前需將砝碼放在實驗室環(huán)境中平衡溫度 2 小時,避免溫度差異導(dǎo)致稱量偏差。校準步驟:開機預(yù)熱完成后,進入 “量程校準” 模式,先進行空載校準,待天平顯示零位穩(wěn)定后,按提示放置個標準砝碼(如 50g),天平自動測量并記錄數(shù)值,若測量值與砝碼標準質(zhì)量偏差在允許范圍內(nèi)(如 ±0.1mg),則繼續(xù)放置下一個砝碼;若偏差超出范圍,天平會自動調(diào)整內(nèi)部參數(shù)進行修正,修正后需重新測量,直至偏差合格。所有量程校準完成后,需進行驗證,稱量一個非校準用的標準砝碼(如 70g),觀察測量值是否準確,確保校準效果。量程校準周期與空載校準一致,每 3-6 個月一次,若天平經(jīng)過維修或稱量精度要求極高,需縮短校準周期,確保不同量程下稱量數(shù)據(jù)準確可靠。高溫樣品冷卻至室溫才能放實驗室天平稱量。山東實驗室天平實驗室必備
稱量無菌樣品時實驗室天平需放無菌操作臺。山東實驗室天平實驗室必備
實驗室天平按稱量精度可分為多個等級,不同等級適用于不同實驗場景,選擇時需結(jié)合精度需求確定。常見的精度等級包括:微量天平(精度 0.1μg-1μg),適用于生物實驗中稱量微量細胞、藥物研發(fā)中稱量微量試劑等對精度要求極高的場景;分析天平(精度 0.01mg-0.1mg),廣泛應(yīng)用于化學(xué)分析實驗,如樣品定量分析、標準溶液配制等,能滿足多數(shù)高精度實驗需求;精密天平(精度 0.1mg-1mg),適合物理實驗、材料檢測中對精度要求適中的場景,如測量材料密度、稱量實驗樣品等;常規(guī)天平(精度 0.01g-0.1g),主要用于實驗室粗稱量,如稱量實驗容器、耗材等對精度要求較低的場景。精度等級越高,天平對使用環(huán)境的要求越嚴格,如微量天平需在恒溫恒濕、無震動的環(huán)境中使用,而常規(guī)天平對環(huán)境適應(yīng)性更強。選擇時需避免 “精度過剩”,如需稱量克級樣品卻選擇分析天平,會增加設(shè)備成本與維護難度;同時也需避免 “精度不足”,如高精度實驗使用常規(guī)天平,導(dǎo)致數(shù)據(jù)誤差過大,影響實驗結(jié)果。山東實驗室天平實驗室必備
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